1绪论
1.1光学三维形貌测量技术概述
1.2条纹投影三维测量技术概述
1.3条纹投影三维形貌测量研究现状
1.4本论文主要研究内容
2基本原理
2.1 条纹投影三维测量系统结构
2.2 相位提取方法
2.2.1傅里叶变换轮廓术
2.2.2相位测量轮廓术
2.3 三维形貌恢复方法
2.3.1 多项式拟合法
2.3.2曲线拟合法
2.3.3空间查表法
2.4测量系统标定
2.4.1 相机模型
2.4.2相机标定方法
2.5 光源步进法相移条纹投影原理
2.6 本章小结
3测量系统标定与测量深度扩展
3.1 测量系统标定流程
3.2标定靶标设计与特征点提取
3.2.1 标定板和参考平面板图案设计
3.2.2 标记点的提取
3.3 相位与三维坐标映射
3.3.1 空间参考平面三维坐标获取
3.3.2 参考平面靶标相位拟合
3.4测量深度扩展研究
3.4.1 相位计算误差分析
3.4.2 测量深度范围扩展方法
3.5小结
4实验及结果分析
4.1 测量系统
4.2 系统标定结果及分析
4.2.1 相机标定结果
4.2.2 空间各参考平面测量
4.2.3参考平面靶标图案相位拟合
4.2.4标准物体三维形貌恢复结果
4.3复杂物体测量结果
4.4 本章小结
5总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读学位期间取得的研究成果
致谢
浙江师范大学学位论文诚信承诺书
声明
浙江师范大学;
