新型介孔二氧化硅材料/高分子混合基质膜的构建及其分离性能的研究

目录

1. 绪论

1.1 引言

1.2 膜分离技术

1.3 分离膜的特点

1.3.1 气体分离膜

1.3.2 液体分离膜

1.4 混合基质膜

1.4.1 混合基质膜的制备方法

1.4.2 混合基质膜的常用填料

1.5 二氧化硅/高分子混合基质膜的研究

1.5.1 二氧化硅的制备方法

1.5.2 二氧化硅/高分子混合基质膜的气相分离应用

1.5.3 二氧化硅/高分子混合基质膜的液相分离应用

1.6 本论文的研究内容与意义

2. 预实验

2.1 引言

2.2 实验部分

2.2.1 实验材料

2.2.2 实验仪器

2.2.3 实验产物的表征

2.3 不同助结构导向剂对介孔二氧化硅制备的影响

2.3.1 实验方法

2.3.2 产物一和产物二的表征结果分析

2.4 不同反应温度对介孔二氧化硅制备的影响

2.4.1 实验方法

2.4.2 不同反应温度下的介孔二氧化硅表征结果分析

2.5 不同搅拌速度对介孔二氧化硅制备的影响

2.5.1 实验方法

2.5.2 不同搅拌速度下合成产物的表征结果分析

2.6 本章小结

3. 不同介孔二氧化硅的制备

3.1 引言

3.2 实验部分

3.2.1 实验材料

3.2.2 实验仪器

3.2.3 不同介孔二氧化硅的制备

3.2.4 不同介孔二氧化硅的表征

3.3 不同介孔二氧化硅的表征结果与讨论

3.3.1 不同介孔二氧化硅的红外光谱分析

3.3.2 不同介孔二氧化硅的形貌分析

3.3.3 不同介孔二氧化硅的比表面积与孔隙度分析

3.3.4 不同介孔二氧化硅的圆二色谱分析

3.3.5 不同介孔二氧化硅的热稳定性分析

3.4 本章小结

4. 新型介孔二氧化硅材料/聚酰亚胺混合基质膜的研究

4.1 引言

4.2 实验部分

4.2.1 实验材料

4.2.2 实验仪器

4.2.3 介孔SiO2/PI混合基质膜的制备

4.2.4 介孔SiO2/PI混合基质膜的表征

4.3 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的表征及性能测试结果

4.3.1 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的形貌分析

4.3.2 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的红外光谱（FT-IR）分析

4.3.3 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的热失重（TGA）分析

4.3.4 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的Zeta电位和水接触角分析

4.3.5 不同新型介孔SiO2/PI混合基质膜的的气体渗透选择性能分析

4.4 SBA-15/PI混合基质膜与20 ℃-SiO2/PI混合基质膜的对比

4.4.1 SBA-15表征结果分析

4.4.2 SBA-15/PI混合基质膜与20 ℃-SiO2/PI混合基质膜气体分离性能表征对比

4.5 本章小结

5. 新型介孔二氧化硅材料/聚偏氟乙烯混合基质膜的研究

5.1 引言

5.2 实验部分

5.2.1 实验材料

5.2.2 实验仪器

5.2.3 介孔SiO2/PVDF混合基质膜的制备

5.2.4 介孔SiO2/PVDF混合基质膜的表征

5.3.1 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的形貌分析

5.3.2 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的红外光谱（FT-IR）分析

5.3.3 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的热失重（TGA）分析

5.3.4 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的静态水接触角分析

5.3.5 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的孔隙率和平均孔径分析

5.3.6 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的水通量和抗污染性能分析

5.3.7 不同新型介孔SiO2/PVDF混合基质膜的DL-色氨酸分离性能分析

5.4 SBA-15/PVDF混合基质膜与20 ℃-SiO2/PVDF 混合基质膜的对比

5.4.1 SBA-15/PVDF混合基质膜的形貌分析及对比

5.4.2 SBA-15/PVDF混合基质膜的红外光谱（FT-IR）分析及对比

5.4.3 SBA-15/PVDF混合基质膜的静态水接触角分析及对比

5.4.4 SBA-15/PVDF混合基质膜的孔隙率和平均孔径分析及对比

5.4.5 SBA-15/PVDF混合基质膜的水通量和抗污染性能分析及对比

5.4.6 SBA-15/PVDF混合基质膜的DL-色氨酸分离性能分析及对比

5.5 本章小结

6. 结论与展望

6.1 结论

6.2 创新点

6.3 展望

参考文献

攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研项目

致谢

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