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第1章 绪论
1.1 常用无损检测技术
1.2 太赫兹波简介
1.3 太赫兹成像技术
1.3.1 太赫兹脉冲波成像
1.3.2 太赫兹连续波成像
1.3.3 太赫兹波成像技术的无损检测应用
1.4 研究现状分析
1.4.1 国外研究现状
1.4.2 国内研究现状
1.5 论文框架与研究内容
第2章 太赫兹连续波系统原理和整体结构设计
2.1 引言
2.2 连续太赫兹波雷达的发射源工作原理
2.2.1 单频连续波
2.2.2 步进频率连续波
2.2.3 线性调频连续波
2.3 太赫兹系统的探测结构
2.3.1 直接探测结构
2.3.2 超外差探测结构
2.3.3 零中频探测结构
2.4 单天线收发共用方式
2.5 太赫兹载频实现方法
2.5.1 全倍频方式
2.5.2 混频-倍频方式
2.6 本章小结
第3章 三维太赫兹波成像雷达的硬件系统设计
3.3 验证平台设计及验证结果
3.3.1 验证平台的参数
3.3.2 验证平台A——窄带线性调频雷达
3.3.3 验证平台B——宽带步进频率雷达
3.3.4 验证平台的测试结果
3.4 硬件系统原理图设计
3.5 硬件系统的电路仿真
3.5.1 Analog/RF仿真
3.5.2 DSP Design仿真
3.6 硬件系统的组成模块
3.6.1 单频信号源（Source 1、Source 2）
3.6.2 微波线性调频源（LFM Source）
3.6.3 100.3031818MHz参考时钟源（Ref Source）
3.6.4 上变频混频器（Mixer 1）
3.6.5 微波功率放大器（PA1）
3.6.6 微波带通滤波器（BPF 1和BPF 2）
3.6.7 标准喇叭天线
3.7 硬件系统的空间-频域采样定律
3.8 硬件系统的调试结果
3.8.1 发射功率及动态范围测试
3.8.2 频谱线性度测试
3.8.3 校准过程
3.8.4 系统稳定性测试
3.8.5 成像分辨率测试
3.8.6 系统实际参数
3.9 本章小结
第4章 太赫兹波三维重建算法研究
4.1 引言
4.2 精确测距和测厚
4.2.1 频谱校正
4.2.2 频谱细化
4.2.3 功率谱估计
4.3 表面或较低折射率材料内部结构的成像算法
4.3.1 距离迁移算法
4.3.2 相位偏移算法
4.3.3 平面二维分辨率
4.3.4 数值仿真结果
4.4 较大折射率材料内部的成像算法
4.4.1 算法原理
4.4.2 数值仿真结果
4.5 表面倾斜度和曲率的测试算法
4.5.1 算法原理
4.5.2 数值仿真结果
4.6 本章小结
第5章 三维太赫兹波成像雷达的无损检测应用
5.1 引言
5.2 材料在太赫兹波段的折射率提取
5.2.1 折射率参数计算
5.2.2 菲涅耳公式解析法的计算仿真
5.2.3 样品折射率测试结果
5.3 样品简介和实验结果分析
5.3.1 样品A类：测厚
5.3.2 样品B类：表面形貌探测
5.3.3 样品C类：折射率较低材料的内部探测
5.3.4 样品D类：折射率较高材料的内部探测
5.3.5 样品E类：表面倾斜和弯曲的样品
5.4 本章小结
第6章 总结与展望
6.1 主要研究工作
6.2 主要创新点
6.3 进一步研究建议
附录A 希尔伯特变换与解析信号
参考文献
作者简介及在学期间所取得的科研成果
致谢
吉林大学;
