声明
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 共轭聚合物及其在光电领域的应用
1.2.1 共轭聚合物的概念
1.2.2 共轭聚合物的发展
1.2.3 共轭聚合物在光电领域的应用
1.3 共轭聚合物有序结构及其对光电性能的影响
1.3.1 共轭聚合物的有序结构与光电性能的关系
1.3.2 外场对共轭聚合物有序结构的调控
1.4 经典共轭聚合物的研究现状
1.4.1 共轭聚合物F8T2
1.4.2 共轭聚合物PFO
1.4.3共轭聚合物P3HT
1.5本论文的设计思想和研究内容
参考文献
第二章 热退火对聚（9，9-二辛基芴-共-二噻吩）（F8T2）聚集结构的影响及其机理研究
2.1 引言
2.2 实验材料及测试
2.2.1 F8T2材料及试剂准备
2.2.2 F8T2薄膜样品制备
2.2.3 测试方法
2.2.4 F8T2的紫外-可见吸收光谱分析方法
2.3 F8T2的热性能表征
2.4 热退火对F8T2聚集结构的影响
2.4.1 F8T2在稀溶液、薄膜以及热退火薄膜中的聚集行为
2.4.2 F8T2聚集结构模拟和理论计算
2.5 F8T2聚集的影响因素及其机理研究
2.5.1 退火温度对F8T2聚集结构的影响
2.5.2 溶剂对F8T2聚集结构的影响
2.5.3 分子量对F8T2聚集结构的影响
2.5.4 浓度对F8T2聚集结构的影响
2.6 F8T2聚集的微观结构和形貌变化
2.6.1 X射线衍射（XRD）表征
2.6.2 薄膜表面形貌（AFM）表征
2.6.3 薄膜透射电子显微镜（TEM）表征
2.7 F8T2聚集结构变化的机理研究
2.8 本章小结
参考文献
第三章 外电场对聚（9，9-二辛基芴-共-二噻吩）（F8T2）热退火过程中有序结构及载流子迁移特性的影响
3.1 引言
3.2 实验材料及测试
3.2.1 F8T2材料及试剂准备
3.2.2 F8T2薄膜样品及器件制备
3.2.3 测试方法
3.3 F8T2的热性能表征
3.4 F8T2薄膜退火温度以及外电场强度的选取
3.4.1 退火温度的选取
3.4.2 外电场强度的选取
3.5 外电场对不同温度退火的F8T2链有序性的影响
3.5.1 紫外-可见吸收光谱表征
3.5.2 荧光光谱表征
3.6 外电场对不同温度退火的F8T2载流子迁移特性的影响
3.7 外电场对不同温度退火的F8T2聚集态结构和形貌的影响
3.7.1 X射线衍射（XRD）测量
3.7.2 薄膜表面形貌（AFM）测试
3.7.3 薄膜扫描电子显微镜（SEM）测量
3.7.4 薄膜透射电子显微镜（TEM）和选区电子衍射（SAED）测量
3.8 外电场对不同温度退火的F8T2薄膜荧光寿命的影响
3.9 外电场诱导不同温度退火的F8T2薄膜取向的机理
3.10 本章小结
参考文献
第四章 外电场对聚（9，9-二辛基芴）（PFO）溶剂蒸汽退火过程中有序结构及载流子迁移特性的影响
4.1 引言
4.2 实验材料及测试
4.2.1 PFO材料及试剂准备
4.2.2 PFO薄膜样品及器件制备
4.2.3 测试方法
4.2.4 PFOβ相计算方法
4.3 外电场对不同溶剂蒸汽退火的PFO薄膜有序性的影响
4.3.1 PFO薄膜的紫外-可见吸收光谱（UV-vis）表征
4.3.2 PFO薄膜的荧光光谱（PL）表征
4.4 外电场对不同溶剂蒸汽退火的 PFO 薄膜载流子迁移率的影响
4.5 外电场对不同溶剂蒸汽退火的 PFO 聚集态结构及形貌的影响
4.5.1 X射线衍射（XRD）测量
4.5.2 拉曼（Raman）光谱测量
4.5.3 表面形貌（AFM）表征
4.5.4 薄膜透射电子显微镜（TEM）和选区电子衍射（SAED）测试
4.6 外电场诱导极性溶剂蒸汽退火过程中PFO取向的机理
4.7 本章小结
参考文献
第五章 外电场对聚（3-己基噻吩）（P3HT）溶剂蒸汽退火过程中有序结构及载流子迁移特性的影响
5.1 引言
5.2 实验材料及测试
5.2.1 P3HT材料及试剂准备
5.2.2 P3HT薄膜样品及器件制备
5.2.3 测试方法
5.3 外电场对不同溶剂蒸汽退火的P3HT薄膜有序性的影响
5.3.1 P3HT薄膜的紫外-可见吸收光谱（UV-vis）表征
5.3.2 P3HT薄膜拉曼（Raman）光谱表征
5.4 外电场对不同溶剂蒸汽退火的P3HT薄膜载流子迁移特性的影响
5.5 外电场对不同溶剂蒸汽退火的P3HT薄膜聚集结构和形貌的影响
5.5.1 X射线衍射（XRD）测试
5.5.2 傅立叶变换红外光谱（FTIR）表征
5.5.3 表面形貌(AFM)表征
5.5.4透射电子显微镜（TEM）和选区电子衍射（SAED）测试
5.6 外电场诱导极性溶剂蒸汽退火下P3HT的取向机理
5.7 本章小结
参考文献
第六章 结论与展望
致谢
作者简介
攻读博士学位期间发表论文
吉林大学;
