多器件退化参数测试系统的设计以及退化模型的建立

目录

第1 章绪 论

1.1 课题背景及研究的目的和意义

1.2 国内外研究现状

1.2.1 无源器件退化的研究现状

1.2.2 有源分立器件退化的研究现状

1.2.3 有源集成器件研究现状

1.2.4 参数测量系统研究现状

1.2.5 器件退化建模的研究现状

1.3 本文的结构安排以及主要内容

第2 章典型器件的退化机理分析

2.1 电阻的退化参数确定

2.1.1 电阻退化的机理分析

2.1.2 电阻的典型退化参数

2.2 电解电容的退化参数确定

2.2.1 电解电容退化的机理分析

2.2.2 电解电容的典型退化参数

2.3 光电耦合器的退化参数确定

2.3.1 光电耦合器退化的机理分析

2.3.2 光电耦合器的典型退化参数

2.4 电磁继电器的退化参数确定

2.4.1 电磁继电器退化的机理分析

2.4.2 电磁继电器的典型退化参数

2.5 MOSFET的退化参数确定

2.5.1 MOSFET退化的机理分析

2.5.2 MOSFET的典型退化参数

2.6 运算放大器的退化参数确定

2.6.1 运算放大器退化的机理分析

2.6.2 运算放大器的典型退化参数

2.7 本章小结

第3 章 典型器件的退化参数测量系统搭建

3.1 测量需求总体分析

3.2 参数测量系统硬件设计

3.2.1 参数测量系统硬件方案

3.2.2 各器件退化参数的测试电路设计

3.2.3 仪器选型

3.2.4 测量系统通信方式分析

3.2.5 信号转接模块设计

3.3 参数测量系统软件设计

3.3.1 参数测量软件总体框架

3.3.2 软件功能设计

3.3.3 软件界面设计

3.4 本章小结

第4 章典型器件退化模型建立

4.1 测量误差分析

4.1.1 误差分析的目的与意义

4.1.2 电阻退化参数测量电路的误差分析

4.1.3 电解电容退化参数测量电路的误差分析

4.1.4 光电耦合器退化参数测量电路的误差分析

4.1.5 继电器退化参数测量电路的误差分析

4.1.6 MOSFET退化参数测量电路的误差分析

4.1.7 运算放大器退化参数测量电路的误差分析

4.2 数据的预处理

4.2.1 对于阈值电压的误差值的修正

4.2.2 对于电容容值的误差值的修正

4.2.3 对于接触电阻的误差值的修正

4.3 建模方法概述

4.3.1 灰色系统建模

4.3.2 支持向量机回归建模

4.3.3 广义神经网络建模

4.4典型器件退化模型建立

4.4.1 电阻参数的变化模型

4.4.2 电解电容退化模型

4.4.3 光电耦合器退化模型

4.4.4 电磁继电器退化模型

4.4.5 MOSFET退化模型

4.4.6 运算放大器退化模型

4.5 本章小结

结 论

参考文献

附录

声明

致谢