基于X射线/剥层法和压痕法的表面变质层残余应力测试

目录

声明

1 引言

1.1 选题意义

1.2 残余应力及其测试方法

1.2.1 残余应力的分类及形成机理

1.2.2 残余应力的测试方法

1.3 X 射线/剥层法和压痕法测残余应力的研究进展

1.3.1 X射线/剥层法测量残余应力的研究进展

1.3.2 压痕法测量涂层残余应力的研究进展

1.4 本文的主要工作

2 基于X 射线/剥层法的表面变质层残余应力的测量和修正

2.1 等双轴残余应力的修正

2.1.1 等双轴残余应力的有限元矩阵修正方法

2.1.2 有限元模型

2.1.3 模型尺寸对计算结果的影响

2.1.4 剥层直径对测量值的影响

2.1.5 剥层过程中沿径向分布的应力

2.1.6 等双轴残余应力有限元矩阵修正方法的验证

2.2 平面非等双轴残余应力的修正

2.2.1 平面非等双轴残余应力的有限元矩阵修正方法

2.2.2 有限元模型

2.2.3 平面非等双轴残余应力有限元矩阵修正方法的验证

2.3 表面变质层残余应力修正方法的试验应用

2.3.1 试验材料及试验设备

2.3.2 表面变质层的硬度

2.3.3 等双轴残余应力的测量及修正

2.3.4 平面非等双轴残余应力的测量及修正

2.4 本章小结

3 压痕法测量涂层残余应力及层厚

3.1 残余应力对压痕曲线的影响

3.2 残余应力及层厚的计算方法

3.3 压痕试验

3.3.1 试验材料及其制备

3.3.2 表面粗糙度的测量

3.3.3 试验方法

3.3.4 残余应力的计算结果

3.3.5 涂层厚度的计算结果

3.4 本章小结

4结论与展望

4.1 结论

4.2 展望

参考文献

附录

附录 A：修正矩阵的计算程序

附录 B：修正结果的计算程序

个人简历、在校期间发表的学术论文及研究成果

致谢