声明
第一章 绪论
1.1研究背景
1.1.1电路的可靠性
1.1.2提高电路可靠性的一些解决方法
1.2本论文完成的工作和创新点
第二章 数字电路的可靠性评估
2.1影响电路可靠性的老化物理机制
2.2 数字电路的长期晶体管老化模型
2.3老化感知电路设计的仿真流程
2.3.1晶体管级的仿真流程
2.3.2门级的仿真流程
2.3.3 大规模电路级的仿真流程（Chip-Level Simulation Flow）
2.3.4 时间约束
2.4 本章小结
第三章 近似计算
3.1保护带
3.2近似计算的背景介绍
3.3 近似加法器
3.3.1 传统的加法器
3.3.2 近似加法器
3.4本章小结
第四章 可靠性增强设计流程
4.1紧凑型的晶体管长期老化模型简化
4.2基于关键路径的分析方法
4.3可靠性增强设计流程
4.4仿真结果和讨论
4.4.1要评估的五种近似加法器
4.4.2实验过程和仿真结果
4.4.3 新的近似方法器结构
4.5 本章小结
总结与展望
参考文献
攻读硕士学位期间取得的科研成果
致谢
安徽大学;
