精密晶圆检测系统中相移干涉术的算法与实验研究
THE PHASE-STEPPING INTERFEROMETRY ALGORITHM AND EXPERIMENTAL RESEARCH OF PRECISION WAFER TESTING SYSTEM
摘 要
Abstract
目 录
第1章 绪 论
1.1 课题意义及背景
1.2 表面微观形貌测量技术概述
1.2.1 机械探针式测量方法
1.2.2 光学探针式测量方法
1.2.3 扫描探针显微镜
1.2.4 扫描电子显微镜
1.2.5 位相干涉测量PMI
1.3 表面微观形貌测量技术研究现状及发展趋势
1.4 本文主要研究工作
第2章 相移干涉术的理论研究
2.1 引言
2.2 相移干涉术
2.3 常见的移相方法
2.4 相移干涉术的应用
2.5 本章小结
第3章 相移干涉术的算法研究
3.1 引言
3.2 相位提取算法的研究
3.3 相位去包裹算法的研究
3.4 本章小结
第4章 干涉图像预处理技术研究
4.1 引言
4.2 亮度变换与空间滤波
4.3 频域处理
4.4 膨胀和腐蚀
4.5 本章小结
第5章 实验系统
5.1 引言
5.2 系统成像光路
5.3 测量数据处理
5.4 本章小结
结 论
参考文献
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果
哈尔滨工业大学硕士学位论文使用授权书
致 谢