首页> 中文学位 >面向AMOLED屏亮度均匀性的光学检测系统
【6h】

面向AMOLED屏亮度均匀性的光学检测系统

代理获取

目录

第一个书签之前

面向AMOLED屏亮度均匀性的光学检测系统

AN OPTICAL DETECTION SYSTEM FOR AMOLED SCREEN BRIGHTNESS UNIFORMITY

摘 要

Abstract

第1章 绪 论

1.1 课题背景及研究意义

1.2 国内外研究现状与分析

1.3 本课题的主要研究内容

第2章 AMOLED屏Mura缺陷检测系统设计

2.1 AMOLED屏概述

2.1.1 AMOLED基本原理

2.1.2 AMOLED结构

2.1.3 AMOLED屏Mura缺陷

2.2 光学检测系统研究重点

2.2.1 硬件系统

2.2.2 图像处理算法分析

2.2.3 Mura缺陷量化与评价

2.3 Mura缺陷检测系统方案

2.4 本章小结

第3章 图像校正与背景纹理抑制

3.1.1 图像畸变校正原理

3.1.2 图像畸变校正仿真

3.2 AMOLED图像倾斜纠正与目标提取

3.2.1 形态学图像处理

3.2.2 Harris角点检测

3.2.3 图像倾斜纠正与目标提取仿真

3.3 AMOLED屏图像背景纹理抑制

3.3.1 Gabor小波滤波器

3.3.2 图像背景纹理抑制仿真

3.4 本章小结

第4章 AMOLED屏Mura缺陷分割

4.1.1 均值漂移算法

4.1.2 水平集分割算法

4.2.1 改进的模型

4.2.2 仿真分析

4.3.1 缺陷量化方法

4.3.2 缺陷量化实验

4.4 本章小结

结 论

参考文献

攻读学位期间发表的学术论文

哈尔滨工业大学学位论文原创性声明和使用权限

致 谢

展开▼

著录项

  • 作者

    李雄杰;

  • 作者单位

    哈尔滨工业大学;

  • 授予单位 哈尔滨工业大学;
  • 学科 物理电子学
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 肖君军;
  • 年度 2017
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类 自动化技术及设备;
  • 关键词

    亮度均匀性; 光学;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号