声明
摘要
第1章 绪论
1.1 集成电路发展概述
1.2 成品率问题
1.3 测试芯片概述
1.4 物理设计
1.4.1 物理设计概述
1.4.2 物理设计中的布线问题
1.5 研究内容
1.6 章节安排
第2章 超大规模集成电路布线算法研究
2.1 超大规模集成电路布线问题描述
2.2 全局布线
2.2.1 全局布线概述
2.2.2 全局布线问题建模
2.2.3 全局布线算法分类
2.3 详细布线
2.4 本章小结
第3章 二端线网的布线新算法研究
3.1 算法提出的背景
3.2 算法的基本概念与定义
3.2.1 自由节点的边界
3.2.2 闭合边、半开放边和开放边
3.2.3 自由节点
3.3 算法的基本思想、实现与分析
3.3.1 算法的基本思想
3.3.2 算法的实现
3.3.3 算法的复杂度分析
3.4 实验结果与分析
3.5 本章小结
第4章 测试芯片设计中的布线算法研究
4.1 测试芯片的布线及遇到的问题
4.2 新的测试芯片布线流程
4.3 测试芯片布线流程中的具体布线算法
4.3.1 模式布线算法
4.3.2 单调布线算法
4.3.3 A*布线算法
4.4 测试芯片布线流程中的几种优化技术
4.4.1 将多端线网拆分成二端线网
4.4.2 拆线重布(Rip-up and Re-route)
4.4.3 局部调整与可调线宽
4.5 实验结果与分析
4.6 本章小结
第5章 结束语
参考文献
致谢