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PDA技术及其在非理想球形粒子特性测量中应用的研究

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文摘

英文文摘

第一章绪论

§1-1引言

§1-2非球形粒子测量技术综述

§1-3本文的主要工作

第二章非理想球形粒子的光散射特性

§2-1非理想球形粒子的散射

§2-2反射模式下的相位特性

§2-3折射模式下的相位特性

§2-4本章小结

第三章非理想球形粒子光散射特性的仿真计算

§3-1反射模式特性仿真

§3-2折射模式特性仿真

§3-3实验验证

§3-4本章小结

第四章基于PDA的对象分类检测

§4-1引言

§4-2模糊模式识别

§4-3血细胞的分类检测

§4-4本章小结

第五章柱形粒子的PDA测量

§5-1柱形粒子的散射

§5-2柱形粒子散射的模拟分析

§5-3柱形粒子轴向尺寸的测量

§5-4柱形粒子测量实验

§5-5本章小结

全文总结

攻读博士学位期间发表的论文及完成的科研项目

参考文献

致 谢

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摘要

PDA技术的理论基础是Mie′s散射理论.而Mie′s理论利用球形粒子来对平面波的散 射进行描述,因此,在PDA系统中,粒子都被假设为理想的球形,而其实际形态往往被忽略 .然而,在测量中,实际粒子的形状大多是非球形的;即便是近似球形的粒子,其表面形状也大多有不规则的起伏.实验证明,当粒子的形状偏离球形,用PDA系统进行粒子特性测量 所得到的结果与粒子特性的理论值之间存在偏差,而且随着粒子形状与理想球形偏离程度的增大,测量结果与理论值的偏差也随增大.

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