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第一章绪论
1.1问题提出与研究目的和意义
1.1.1问题的提出
1.1.2研究的目的和意义
1.2国内外相关研究回顾
1.2.1 CUSUM、EWMA、时间序列残差控制图相关研究回顾
1.2.2神经网络相关研究回顾
1.3本文创新点
第二章自相关过程控制方法研究
2.1休哈特控制图
2.2时间序列残差控制图
2.3观测值的EWMA控制图与残差的EWMA控制图
第三章时间序列分析及自相关过程
3.1平稳过程的自相关函数
3.2自相关过程的检验
3.3时间序列分析及自回归模型AR(p)
3.4建立自相关过程均值变动模型
3.4.1自相关过程模型
3.4.2自相关过程均值变动形式
3.4.3自相关过程渐进式均值漂移模型
3.4.4自相关过程阶越式均值变动模型
第四章神经网络基本原理与BP神经网络特性
4.1神经网络基本原理
4.1.1神经元与单神经元模型
4.1.2转移函数
4.1.3神经元的向量输入
4.2神经网络基本结构
4.2.1单层神经元网络
4.2.2多层神经元网络
4.3 BP算法及BP神经网络工作原理
第五章BP神经网络结构设计及训练
5.1 BP神经网络结构设计
5.1.1输入层结构设计
5.1.2隐层结构设计
5.1.3输出层结构设计
5.2 BP神经网络的训练
5.2.1神经网络训练的原理
5.2.2 BP训练算法
5.2.3选取训练数据的一般原则
5.2.4训练数据的产生
5.2.5 BP神经网络的训练
5.3神经网络的输出界限值
第六章自相关过程均值变动检测效果分析
6.1 BP神经网络性能评价指标
6.1.1 BP神经网络的识别率
6.1.2 BP神经网络的ARL
6.2阶越式均值变动检测结果分析
6.2.1过程输入数据的产生
6.2.2网络输出与结果分析
6.3渐进式均值漂移检测结果分析
6.3.1过程输入数据的产生
6.3.2网络输出与结果分析
6.4输入层神经元数对神经网络识别率的影响
6.4.1建立实验模型
6.4.2实验结果分析
6.5隐层神经元数对神经网络识别率的影响
6.5.1建立实验模型
6.5.2实验结果分析
第七章实例研究
7.1陶瓷滤波器生产工艺过程和参数特性
7.2休哈特控制图检测镀银工艺过程
7.3残差控制图检测镀银工艺过程
7.4 BP神经网络检测镀银工艺过程
7.5结论
参考文献
发表论文和科研情况说明
致 谢