声明
摘要
第一章 绪论
1.1 课题研究背景及意义
1.2 测温技术的现状和发展趋势
1.3 课题来源和主要研究内容
第二章 SiC晶体的性质、缺陷及分析方法
2.1 SiC的基本性质
2.2 晶体材料的缺陷
2.3 SiC晶体的材料分析方法
第三章 SiC测温技术及试验
3.1 SiC晶体测温原理
3.2 测温晶体的材料选取
3.3 中子辐照与缺陷回复
3.4 测温晶体的温度判读
3.4.1 测温晶体的分析方法
3.4.2 测温晶体的表征参数
3.4.3 测温晶体的定标曲线
3.5 测温晶体的应用试验
3.5.4 试验方案
3.5.5 试验实施
3.5.6 数据分析
第四章 工作总结
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢