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全文框图索引目录
主要术语缩略表
第一章 引言
§1.1 研究背景与研究意义
§1.2 国内外研究现状
§1.3 本文的主要工作及结构安排
第二章 SOC 中混合信号电路的测试
§2.1 传统测试方法及局限
§2.2 BIST测试方法
§2.3 本章小结
第三章 谱分析的混合信号电路BIST方法与理论
§3.1 谱分析的BIST方法
§3.2 测试系统结构与理论分析
§3.3 测试系统仿真分析
§3.4 本章小结
第四章 测试处理器的设计与实现方法
§4.1 设计目的与设计要求
§4.2 处理器IP Core的设计
§4.3 FPGA验证与性能分析
§4.4 本章小结
第五章 验证系统设计与实验结果分析
§5.1 验证系统硬件设计
§5.2 白噪声信号源与模拟电压比较器
§5.3 在线BIST结构的实现
§5.4 测试参数设置
§5.5 测试结果与分析
§5.6 本章小结
第六章 结论与进一步的工作
参考文献
致谢