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目录
第一章 绪 论
1.1 研究背景与意义
1.2 宽禁带半导体氧化镓简介
1.3 氧化镓日盲紫外探测器的国内外研究历史与现状
1.4 本文的主要研究内容
第二章 实验方法与装置介绍
2.1 分子束外延设备简介
2.2 氧化镓薄膜的后退火装置简介
2.3 氧化镓薄膜的表征方法与装置
2.4 氧化镓薄膜光电导日盲紫外探测器简介
2.5 本章小结
第三章 氧化镓薄膜材料特性的优化及其对光电导性能的影响
3.1 氧化镓薄膜光电导日盲紫外探测器的制备
3.2 退火对氧化镓薄膜质量及光电导特性的影响
3.3 基片原位退火对氧化镓薄膜质量及光电导特性的影响
3.4 本章小结
第四章 面向大面阵的氧化镓薄膜光电导探测器结构探索
4.1 氧化镓薄膜光电导日盲紫外探测器的缩放特性
4.2 二极管辅助光电导探测器的研究
4.3 本章小结
第五章 结论与展望
5.1 结论
5.2 后续工作展望
致谢
参考文献
攻读硕士学位期间取得的成果