WaveStar ADM 16/1 Compact自动功能测试系统的开发和应用

摘要

该课题着重于开发一种高速、高效、经济、便于使用和维护的全自动功能测试系统.该系统的核心内容归纳如下:1.该课题主要是针对产品在生产过程中的功能测试环节进行分析与设计.配置系统的软、硬件平台,确定整体测试方案,解决了传统测试系统可靠性差、误判率高、通用性差、效率低和系统价格昂贵的缺陷.2.测试实现以线路光盘的功能块为单元进行动态测试,所有电路板上的设置与调整均能够在功能测试设备上进行.3.测试工艺和方案进行了诸多改进工作.4.系统的硬件平台采用模块化设计,可根据需要进行配置,灵活方便.所有的仪器仪表均采用国际通用的IEEE488总线接口,由IEEE488总线连接到计算机的控制端口上.5.系统的软件平台选用流行的Win95/98或WinTN为其操作平台,以便于今后的维护及升级.6.新设计的测试方法不仅能够正确判断光盘在通电状况下自身的功能状况是否良好,还同时兼顾到生产过程中坏盘的故障定位、修理,以及由于电路盘版本升级而伴随的测试程序的修改和升级.

目录

原创性声明和使用授权书

摘要

第一章 引 言

第二章 SDH技术简述

第三章 WaveStarTM ADM 16/1 Compact的结构和功能

第四章 SDH传输设备测试原理

第五章 WaveStarTM ADM 16/1 Compact 功能测试系统的建立

第六章 CORE单元盘LKA10 功能测试系统的分析

第七章 CORE单元盘LKA10 功能测试系统的应用和设计验证

第八章 总结与展望

参 考 文 献

附录

攻读学位期间发表的学术论文

致 谢