四核心微处理器测试方法的研究

摘要

i7微处理器是英特尔2008年推出的新一代4核心的微处理器。该微处理器采用了45纳米工艺,并采用了英特尔Nehalem微架构.Nehalem微架构是可扩展的架构,微处理器中的每个工作单元均采用了模块化设计,如核心的数量,IMC(Integrated Memory Controller)数量,SMT(Simultaneous Multi-Threading)功能,QPI(Quick Path Interconnect)的数量,LLC(LAST LEVEL,CACHE)缓存容量,内存通道数量,时钟频率等,这些模块可以自由组合,以满足不同的市场需求.
　　 微处理器生产测试过程中所使用的测试机是来自ADVANTEST公司的T2000测试机。T2000自动测试设备系统是一款可供用户自行配置的模块化的半导体芯片测试机系统,在业界也是被广泛应用。目前,为了测试频率高达5G的PCIE总线,我们所使用的测试模块为6.5G的差分模块。同时,为了节约成本及达到一定的测试精度,测试机也配备了800MHz的数字测试模块。所以,用户可以根据自己的不同需求来制定测试机的配置,以达到节约成本,最大限度的提高测试机的利用率。
　　 本文主要从以下几个方面来讨论四核心微处理器的测试方法,第二章介绍了四核心微处理器的性能和指标。新一代四核心微处理器于先前的架构有了很大的变化,所以,为了更好的理解其测试方法,我们先来了解四核心微处理器的架构。第三章简单介绍了T2000测试机的主要工作原理及参数。第四章,主要介绍了微处理器的直流测试,其中详细描述了测试的初始化测试,开短路测试和输入输出高低电平测试,初始化在测试程序中扮演着不可缺少的部分,在初始化的过程中,不同的产品初始化为不同的内容,这样就能够使得不同的产品共享一个测试程序,提高了程序的重用性,第五章讨论及研究功能测试,功能测试对于微处理器来说是十分重要的,同时其涉及的技术含量也比较高,随着半导体技术的发展,集成度的提高,在测试过程中温度的控制也愈发的显得重要。所以,重点研究了如何并行测试四个核心。第六章里详细的讨论了特殊的测试方法,温度相关测试Visual ID的测试及它在测试过程中的重要性。在第七章里,我们研究了测试的数据结果,并且给出了优化的方向。第八章,我们进行了总结与展望。