摘要
英文缩写说明
图目录
第一章 引言
1.1 寄存器堆研究背景
1.2 寄存器堆设计方法
1.3 本文主要工作与内容安排
第二章 基于单端读位线、伪差分放大技术的寄存器堆研究与实现
2.1 TSMC65_64×32_V102设计初衷与总体结构
2.2 关键模块设计与优化
2.2.1 全对称可共享存储单元
2.2.2 伪差分放大结构
2.2.3 高速时序产生与控制
2.3 TSMC65_64×32_V102芯片验证与测试
2.3.1 芯片验证
2.3.2 测试结果与比较
2.4 小结
第三章 基于位线分割、动态单位线读出的寄存器堆研究与实现
3.1 SMlC65_32×32_V203总体结构
3.2 关键模块设计
3.2.1 存储单元结构
3.2.2 译码与控制结构
3.2.3 数据读出通路
3.3 SMIC65_32×32_V203芯片验证与测试
3.3.1 芯片验证
3.3.2 测试结果与比较
3.4 小结
第四章 基于字线双泵技术的极小面积、低功耗寄存器堆研究与实现
4.1 SMIC65_32×32_V103设计初衷与总体结构
4.2 关键模块设计与优化
4.2.1 高鲁棒性存储单元结构
4.2.2 混合数据输出通路
4.2.3 时序重组与时间借用
4.2.4 其他关键模块
4.3 SMIC65_32×32_V103芯片验证与测试
4.3.1 芯片验证
4.3.2 测试结果与比较
4.4 小结
第五章 寄存器堆测试方案
5.1 测试原理
5.2 测试设备与测试板
5.2.1 测试设备
5.2.2 PCB测试开发版
5.3 具体测试方法
5.3.1 功能测试
5.3.2 性能测试
5.3.3 功耗测试
5.4 小结
第六章 总结与展望
参考文献
硕士期间发表的论文和专利
致谢
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