脉宽调制电源控制器芯片(PWM)电性能测试技术的研究

摘要

随着科技的不断进步，正处于一个半导体的世界中，每个人的生活都与半导体元器件息息相关，从电灯、洗衣机、电冰箱、电视机等家用电器，到电脑、计算器、手机、音响等消费类电子;从医疗、教育、运输，到国防、航天、通讯等各个领域无一不涉及电子元器件的应用。
　　脉冲宽度调制电源管理类芯片，这里简称脉宽调制芯片，也叫PWM，是英文Pulse Width Modulation的缩写。DC-DC脉宽调制芯片是电源管理类芯片的一种，主要用在开关电源中，用于通过调节开关器件工作的占空比从而使开关稳压电源可以提供电路所需要的稳压直流电压输出。正是由于集成化的脉宽调制芯片的出现，大大提升了开关稳压电源的性能，提高了稳定性，使得开关稳压电源的应用越来越广泛。单片集成脉宽调制芯片的开关稳压电源已成为功率电子学研究的热点之一。脉宽调制芯片在计算机，电子通讯等众多领域已获得广泛应用。
　　正因为脉宽调制芯片有如此重要的作用，全球多家半导体芯片公司---如德州仪器，意法半导体，仙童半导体，英飞凌，飞思卡尔等一都设计有各种不同的脉宽调制芯片以用于不同电流电压工作状态。相关机构统计数据表明，2006年全球模拟IC市场达到近300亿美元，其中电源管理芯片占了近65亿美元。电源管理芯片始终是模拟IC市场的重要组成部分。现今电源管理类芯片每年的全球销售额有数百亿美元，是所有芯片生产厂家所不能忽视的一个重要部分。
　　本论文将介绍PWM芯片的沿革、功能、架构和工作原理，对PWM芯片的电性能测试原理，以及实现的方法和性能指标加以介绍和阐述。同时本文将从生产出发，提供基于国产测试系统的测试方案，为PWM芯片的测试生产提供了一种低成本稳定的测试解决方法。

目录

摘要

第一章 绪论

1．1 脉宽调制芯片PWM的出现

1．2 PWM芯片的基本功能和结构

1．2．1 PWM芯片的功能

1．2．2 PWM芯片的架构

1．3 电子元器件电性能测试的必要性和复杂性

1．3．1 电性能测试的必要性

1．3．2 电性能测试的复杂性

1．4 PWM芯片测试的难点

1．5 论文的主要工作和结构介绍

第二章 测试系统的选择

2．1 智能化测试系统

2．1．1 单片机测试系统

2．1．2 专用微机测试系统

2．1．3 简单通用微机测试系统

2．1．4 复杂通用微机测试系统

2．2 测试系统的评价和选择

2．2．1 测试系统的硬件

2．2．2 测试系统软件

2．2．3 测试系统的技术支持服务

2．2．4 测试系统成本

2．3 AST2000测试系统介绍

2．3．1 AST2000测试系统结构

2．3．2 AST2000主要内部板卡资源

第三章 PWM电参数测试方法

3．1 PWM工作原理和测试项目

3．1．1 AC-DC型PWM

3．1．2 DC-DC型PWM

3．1．3 电压模式PWM

3．1．4 电流模式PWM

3．1．5 PWM主要部分介绍

3．2 UC3842测试硬件搭建

3．2．1 UC3842器件概述

3．2．2 AST2000资源配置

3．2．3 DUT板设计

3．2．4 回路搭建注意事项

3．3 参数测试说明

第四章 测试生产的导入

4．1 测试程序的编写

4．1．1 测试程序说明

4．1．2 AST2000软件程序

4．1．3 程序编写

4．2 与测试分选机的连接

4．2．1 分选机介绍

4．2．2 测试机与分选机的通讯连接

4．3 测试结果的验证

第五章 总结

参考文献

致谢

附录

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