计算机硬件电路可测试性设计与自动测试的实现

摘要

通过面向嵌入式系统可测试性分析,针对嵌入式系统的特征和可测试性要求,结合工程中可测试性的设计原则,对某机载嵌入式计算机的可测试性设计进行分析,在此基础上,完成了产品测试的总体方案.针对自动测试技术的发展,通过对VXI总线自动测试技术特点的分析,选用interface公司的SR2510测试主模块,配以其他激励、采集、测量、多路选择开关等辅助测试模块和各种适配器,完成了通用自动测试设备的集成与配置工作,进行了主适配器和子适配器的设计、生产和调试工作.论文将对通用自动测试设备的工作原理和通用性进行阐述.根据被测的嵌入式计算机的可测试性,以及功能、性能的测试需求,采用从芯片、模块到整机系统的层次结构的测试方法,设计了各模块及整机自动测试的方法和步骤,在此基础上,编写了测试程序并调试通过.对模块和整机的测试进行了定量分析,计算了测试的性能参数即故障检测率和故障隔离率,并对测试的结果进行评价,在此基础上,提出了改善测试性能,提高可维护性的办法和建议.

目录

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第一章绪论

1.1测试概述

1.2可测试性设计技术概述

1.3自动测试系统概述

1.4本论文的主要内容

第二章计算机硬件电路可测试性设计

2.1可测试性设计概述

2.1.1可测试性设计的常用方法

2.1.2边界扫描技术简介

2.1.3内建自测试技术

2.2某嵌入式计算机的体系结构

2.2.1 CPU模块

2.2.2 MEM模块

2.2.3 IO模块

2.3某嵌入式计算机可测试性设计

2.3.1芯片的自测试能力

2.3.2机内总线的测试性

2.3.3存储器的校验电路

2.3.4总线检测电路

2.3.5电源的电压检测电路

2.3.6测试专用插座

2.3.7信号线负载

2.4总体测试方案概述

2.4.1模块测试设备

2.4.2整机测试设备

第三章自动测试系统

3.1 VXI总线测试平台技术简介

3.1.1 VXI系统的体系结构

3.1.2高速数据通路(FDC)

3.1.3 VXI总线仪器的实现

3.1.4 GPIB-VXI翻译器

3.1.5虚拟仪器的设计

3.2自动测试系统的结构

3.3 VXI测试设备组成和工作原理

3.3.1测试主模块

3.3.2测量模块

3.3.3零槽控制器模块

3.3.4数字IO模块

3.3.5多路开关

3.3.6可编程电源

3.4主适配器的设计

3.5子适配器的设计

3.5.1子适配器与主适配器的连接

3.5.2辅助电路

3.6小节

第四章计算机硬件电路的测试

4.1静态特性测试

4.2 CPU模块的测试

4.2.1芯片内部自测试

4.2.2启动ROM中的测试

4.2.3激励测试

4.3 MEM模块的测试

4.3.1存储器的访问测试

4.3.2存储器的奇偶校验测试

4.3.3禁止存储器功能测试

4.4 IO模块的测试

4.4.1接口模块测试方法概述

4.4.2 IO模块的测试步骤

4.5计算机整机的测试

4.5.1电源电压的测试

4.5.2离散量的中断测试

4.5.3机内总线状态测试

4.6测试的分析与评判

4.6.1测试的性能要求

4.6.2基本假设

4.6.3定性分析

4.6.4固有的测试性评定

4.6.5故障模拟

4.6.6测试有效性的度量

4.6.7测试结果的评判

4.7小节

第五章结束语

参考文献

致谢

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