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第一章绪论
1.1选题的背景与意义
1.2过程与波动
1.3统计过程控制(SPC)
1.4控制图的性能度量
1.4.1平均运行长度(ARL)
1.4.2平均产品长度(APL)
1.5过程监控技术的研究现状
1.5.1正态过程监控
1.5.2非正态过程监控
1.5.3小波动过程监控
1.5.4多元过程监控
1.5.5自相关过程监控
1.6论文的主要内容与结构安排
1.6.1课题的提出
1.6.2本文的研究内容及总体框架
1.7本章小结
第二章正态过程质量控制的性能评价与改进
2.1休哈特控制图的设计思想
2.2用APL进行休哈特控制图的设计
2.3设计方案的灵敏度分析
2.3.1均值发生偏移时的灵敏度分析
2.3.2方差发生变化的情况
2.3.3均值和方差都发生改变的情况
2.4设计效果比较
2.5设计方法的使用
2.6本章小结
第三章小波动过程质量控制的性能评价与改进
3.1几种常用的小波动控制图
3.1.1.移动平均(MA)图
3.1.2.累积和(CUSUM)图
3.1.3.指数加权移动平均(EWMA)控制图
3.2 EWMA图的优化设计
3.2.1平均产品长度的计算
3.2.2最佳参数的选择
3.2.3设计效果比较
3.3改进的EWMA图的使用
3.4本章小结
第四章非正态过程质量控制的性能评价与改进
4.1赋权方差(WV)方法
4.2非正态休哈特图的优化设计
4.2.1控制方案的设计
4.2.2灵敏度分析
4.2.3偏态休哈特图最优设计与一般方法的比较
4.2.4偏态情况最优设计的使用
4.3非正态总体下的EWMA图
4.3.1非正态EWMA图的构造
4.3.2平均运行长度的计算方法
4.3.3非正态EWMA图的设计方法
4.3.4监控效果比较
4.4本章小结
第五章多元过程质量控制的性能评价与改进
5.1 HotellingT2图
5.2多元小波动控制图
5.2.1 MCUSUM图
5.2.2 MEWMA图
5.3基于多点报警的多元控制图
5.3.1平均运行长度的计算
5.3.2使用案例
5.4效率分析与比较
5.5基于虚拟元回归的失控信号诊断
5.5.1二元质量控制的诊断方法
5.5.2多元质量控制的诊断
5.5.3一个二元质量控制的诊断算例
5.5.4诊断方法比较
5.6本章小结
第六章自相关过程质量控制的性能评价与改进
6.1自相关过程的时间序列拟合模型
6.1.1 AR模型
6.1.2 MA模型
6.1.3 ARMA模型
6.1.4模型识别和参数估计
6.2用残差消除过程自相关
6.3 EWMA残差控制图
6.3.1过程均值的EWMA残差图
6.3.2过程方差的EWMA残差图
6.3.3 EWMA残差控制图的应用
6.3.4几种残差控制图的比较
6.4反馈过程调整
6.5反馈调整后的过程质量监控
6.5.1 MMSE调整后的监控
6.5.2 PI调整后的监控
6.5.3监控效率分析
6.5.4算例
6.6本章小结
第七章结束语
7.1本文的内容总结
7.2本文的创新之处
7.3研究展望
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢
西北工业大学;