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【6h】

基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究

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目录

文摘

英文文摘

第一章绪论

1.1集成电路参数成品率优化设计的意义和现状

1.2本论文的主要工作

第二章集成电路成品率优化设计的数学基础

2.1IC参数成品率中的最优化方法

2.1.1确定性和统计性最优化方法[2,3]

2.1.2影响参数成品率的因素及成品率表示

2.1.3参数成品率中的统计最优化

2.1.4集成电路中的参数统计性[2,3]

2.2 Powell方向加速法[2,1]

2.3均匀设计与均匀设计表[2,2]

2.4本章小结

第三章集成电路参数成品率的基本模型

3.1参数成品率的中心值设计模型

3.1.1参数成品率的定义

3.1.2参数成品率的求解

3.1.3参数成品率估计中的策略和技巧

3.1.4中心值设计

3.2等效效益极大化的成品率折衷

3.3现有参数成品率模型的局限

3.4本章小结

第四章基于IC产品最优分档的效益协调优化模型

4.1连续价格系数函数的构造

4.2价格系数函数的离散化与电路产品的分档

4.3基于最优分档的效益优化模型

4.4模型的求解

4.4.1模型的简化及误差估计

4.4.2模型的求解

4.5本章小结

第五章集成电路分档成品率优化设计实例分析

5.1 二输入MOSFET与非门电路分析

5.2测试函数对模型的验证

5.3实例运行结果列表

5.4本章小结

第六章结论

致谢

参考文献

附录:攻读硕士期间的研究成果及参加科研项目

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摘要

该论文主要研究了集成电路参数成品率的效益协调优化模型,在中心值设计、效益极大化模型的基础上提出了一种基于产品最优分档的整体效益协调优化模型.主要研究结果如下:首先,构造了一个电路综合性能指标函数,据此函数合理地构造了连续可导的价格系数函数,并在此基础上,结合市场的供求和其它实际情况对连续价格函数进行离散化及对电路产品进行分档.接着,提出了一种新型的分档效益协调优化模型,并估计了模型的误差.与现有模型相比,该模型综合考虑了以下因素:分档数(分几档)、分档参数(怎样分档)、中心设计值,因而更具有普遍性和优越性.其次,针对此模型设计了一种新的求解方法,此方法具有收敛快,精度高的特点.最后,用二输入MOSFET电路和多个测试函数方程组对模型进行了实例化模拟,结论表明此模型非常令人满意.

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