电阻及DC/DC转换器低频噪声检测技术

摘要

近年来，随着对电子元器件低频噪声的深入研究，人们发现噪声是电子元器件内部潜在缺陷的敏感反映。众所周知，大部分器件的失效都是由于器件制造或运行期间产生的潜在缺陷产生的。因此可以用电子元器件低频噪声来分析器件可靠性。目前这种方法正在被应用于各种半导体器件。包括MOSFET、量子阱、厚膜和薄膜电阻、钽电容器、单晶材料等元件的可靠性分析方面。噪声已经成为电子器件可靠性评价与筛选的一种简单而有效的新手段。作为一种可靠性表征手段，电子元器件的低频噪声可靠性表征技术具有以下几个特点：普遍适用性、高度灵敏性、非破坏性以及检测速度较快等优点。目前有关此方面的研究仍是一个非常活跃的领域，尚待解决的问题仍然很多，比如超低阻器件低频噪声的检测与分析技术、具备复杂电路模块器件低频噪声的检测与分析技术等等。 本文通过对电导噪声测量技术基础理论的详细研究与分析，给出了一些电导噪声测试的基本理论与方法。在总结自己实际噪声测试实验基础上，给出了一些噪声测试过程中的实验技术，并且完成DC/DC转换器低频噪声的测量与分析技术，解决了噪声信号中包含周期干扰信号时的处理方法。本文研究工作的主要结果和创新点包括： 1．系统性地分析了电子元器件低频噪声测试方法； 2．在实验基础上总结了噪声测试中的具体实验技术； 3．通过对DC/DC转换器工作特点分析，根据电导噪声的测量方法，确定了DC/DC转换器低频噪声测试方案； 4、提出并分析了从DC/DC转换器低频噪声测试结果中去除其电路结构产生的交流干扰信号的处理方法。

目录

文摘

英文文摘

声明

第一章绪论

1.1电子器件低频噪声分析意义

1.2电子器件低频噪声测试基本原理及特点

1.3论文内容

第二章电导元件低频噪声测试方法

2.1电导元件低频噪声检测技术基础

2.1.1电子器件低频噪声分类与表征参数

2.1.2电子元器件低频噪声检测基本原理

2.2电导器件低频噪声测试方法

2.2.1直流偏置测量技术

2.2.2交流偏置测量技术

2.2.3交流加直流偏置测量技术

2.3电子元器件低频噪声测量方案设计原则

第三章薄膜与厚膜电阻噪声检测技术

3.1电导器件低频噪声测量实验技术

3.1.1噪声测量实验中应该注意的问题

3.1.2阻抗匹配问题

3.1.3电源以及限流电阻的选择

3.1.4噪声信号的正确性识别

3.2薄膜电阻噪声检测实验

3.2.1薄膜电阻噪声检测实验设计与意义

3.2.2噪声检测方案

3.2.3数据处理

3.2.4噪声检测结果与分析

3.3厚膜电阻噪声检测实验

3.3.1厚膜电阻器噪声测量实验设计与意义

3.3.2噪声检测方案

3.3.3厚膜电阻及电迁移低频噪声测量适配器制作

3.3.3噪声信号数据处理

3.3.4噪声检测结果与分析

第四章DC/DC转换器低频噪声检测与分析

4.1DC/DC转换器噪声测试意义

4.2 DC/DC转换器噪声检测方案

4.3DC/DC转换器噪声测试适配器制作

4.4DC/DC转换器噪声检测结果与分析

4.4.1DC/DC转换器低频噪声时间序列分析

4.4.2 DC/DC转换器噪声数据分析与处理

第五章结束语

5.1论文成果

5.2展望

参考文献

致谢

在学期间研究成果