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半导体激光器光束质量评估

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第一章绪论

1.1研究背景及意义

1.1.1半导体激光器的发明与发展

1.1.2激光二极管的光束质量和评价参数

1.2论文的主要内容

1.2.1课题来源

1.2.2结构安排

1.2.3论文工作

第二章半导体激光器的基本原理、结构及其应用

2.1半导体激光器的基本原理和结构

2.2半导体激光器材料

2.3注入型半导体激光器的特点

2.4半导体激光器的应用与展望

第三章激光二极管的光束质量评价

3.1引言

3.2常用的光束质量评价参数的特性分析

3.2.1远场发散角

3.2.2聚焦光斑尺寸

3.2.3衍射极限倍数因子

3.2.4环围能量比

3.2.5斯特列尔比(Strehl)

3.2.6M2因子

3.2.7小结

3.3文献的评价激光二极管光束质量的方法

3.4光束质量评估的新方法

第四章结论

致谢

参考文献

研究成果

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摘要

本论文简单介绍了半导体激光器的发明与发展,接着分析了半导体激光器的基本原理与器件结构及其应用,综述了传统的一些激光光束质量评价标准。在此基础之上,提出了一种新的针对激光二极管光束质量评价方法。 本论文主要完成的工作如下: 1.综述了传统的一些激光光束质量评价标准,主要有聚焦光斑尺寸、远场发散角、衍射极限倍数因子β值、斯特列尔比、环围能量比,以及M<'2>因子等。分析了它们各自的适用范围、优点和局限性。 2.分析了利用透镜对激光二极管光束进行准直的难易程度的主要影响因素,并给出了一种新的光束质量评价方法L*θ<'7><,y>*As(ι是发光源在平行于结平面方向的长度,θ<,y>是光束在垂直于结平面方向的发散角。As是激光二极管的像散特性参量),较好地反映了在实际工程应用中光束准直的难易程度,此值越小光束质量越好,越容易准直。

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