高功率半导体激光器阵列参数测试仪研制

摘要

对于高功率激光器阵列参数的测量，一般采用光功率计、驱动电流源、光谱分析仪等设备组合而成一个激光器测试仪器，它不仅体积大、不能连续测量、费工费时、自动化程度低，而且因为由于半导体激光器阵列发光区域很宽、发散角较大，一般的光功率计和光谱分析仪的接收口有限，无法对其进行精确测量。本文介绍的高功率半导体激光器阵列参数测试系统，采用高精度的数据采集技术、强大的数据处理技术及精密机械定位技术，可对半导体激光器阵列的P-I曲线(Power-Current曲线即光功率-电流曲线)、V-I曲线(Voltage-Current曲线即电压-电流曲线)、光谱特性曲线及相关参数自动进行测试。 系统的显著特点为： 1、可实现连续测试，测试速度达3支/分； 2、高可靠性脉冲驱动电源，使受试器件在测试过程中不会意外受损； 3、采用半导体致冷器为执行元件的恒温测试台，保证了测试结果的准确性； 4、系统软件部分设计采用Windows风格，用户界面友好，易于显示、存储、管理和打印测试结果。 系统开发过程中，我们测量了几十只半导体激光器，结果表明：该系统测量速度快、测试精度高、重复性好。为开发和研制高性能的半导体激光器阵列提供了有力的保障。

目录

文摘

英文文摘

原创性声明和关于论文使用授权的说明

第一章绪论

第二章基本知识介绍

第三章测试系统的总体设计

第四章驱动电源的设计

第五章温度控制系统的设计

第六章数据采集与控制系统的设计

第七章光学参量测试设计

第八章上位机软件设计

第九章结论与建议

参考文献

致谢

攻读硕士学位期间发表的学术论文

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