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摘要
第1章 绪论
1.1 课题来源
1.2 课题研究的目的与意义
1.2.1 课题研究的目的
1.2.2 课题研究的意义
1.3 国内外数控装置可靠性技术的研究现状
1.3.1 国外研究现状
1.3.2 国内研究现状
1.3.3 数控装置可靠性评估面临的问题
1.4 数控装置可靠性的发展前景
1.5 论文的主要工作及内容
第2章 数控装置的可靠性预计和分配
2.1 概述
2.2 数控装置可靠性模型的建立
2.2.1 数控装置可靠性逻辑框图的构建
2.2.2 串联系统可靠度的计算
2.3 可靠性的分配
2.3.1 加权因子分配法
2.3.2 数控装置可靠性指标的分配
2.4 可靠性预计
2.4.1 基于数理统计的预计法
2.4.2 元器件计数法
2.4.3 元器件的失效模型和失效率来源
2.4.4 预计数控装置的可靠性
2.5 本章小结
第3章 数控装置的故障模式影响分析
3.1 概述
3.2 数控装置故障模式的分析
3.3 数控装置故障模式分类和原因的分析
3.4 数控装置故障模式危害度的分析
3.5 本章小结
第4章 数控装置的寿命分布模型
4.1 概述
4.2 数控装置的可靠性寿命数据抽取
4.3 首次故障时间分布类型的初选
4.3.1 绘制频率直方图
4.3.2 分布类型的初选
4.3.3 经验分布函数的确定
4.3.4 分布类型的图检验和极大似然估计
4.3.5 分布函数的假设检验
4.3.6 数控装置的可靠性指标定量分析
4.4 本章小结
第5章 数控装置的可靠性评估
5.1 概述
5.2 Bayes评估方法的基本思想
5.3 Bayes评估方法关键技术及应用
5.3.1 验前信息的获取与检验
5.3.2 Bayes验前分布的确定方法
5.4 数控装置的Bayes分析
5.4.1 验前信息的分析与检验
5.4.2 先验信息分析及参数确定
5.4.3 验后信息分析
5.5 本章小结
第6章 结论
6.1 概述
6.2 展望
参考文献
致谢
东北大学;