声明
1 绪论
1.1 研究背景和意义
1.1.1 研究背景
1.1.2 研究意义
1.2 国内外研究现状
1.2.1 国外研究现状
1.2.2 国内研究现状
1.3 研究内容和方法
1.3.1 研究内容
1.3.2 研究方法
1.3.3 研究思路
1.4 本章小结
2 基于六西格玛的半导体扩散区设备产能定义与测量
2.1 六西格玛管理流程
2.1.1 六西格玛的应用原则
2.1.2 六西格玛的应用工具
2.2 扩散区简介
2.3 定义问题阶段(D)
2.3.1 半导体扩散区产品生成过程
2.3.2 半导体扩散区产能问题界定
2.4 测量阶段(M)
2.4.1 时间开动率
2.4.2 性能开动率
2.4.3 产品合格率
2.5 本章小结
3 基于六西格玛的半导体扩散区设备产能分析提升与控制
3.1 分析(A)与提升(I)阶段
3.1.1 时间开动率分析与提升
3.1.2 性能开动率分析与提升
3.1.3 产品合格率分析与提升
3.2 控制阶段(C)
3.2.1 提高单位时间最大产出量
3.2.2 派工和到站预测控制
3.2.3 提高设备利用率
3.3 本章小结
4 基于六西格玛的半导体扩散区产能应用实践与提升效果
4.1 应用实践分析
4.1.1 时间开动率环节的应用
4.1.2 性能开动率环节的应用
4.1.3 产品合格率环节的应用
4.2 提升效果分析
4.2.1 时间开动率有效提升
4.2.2 性能开动率有效提升
4.2.3 产品合格率有效提升
4.2.4 整体产能提升
4.3 本章小结
结论
参考文献
致谢
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