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声明
第一章引言
1.1课题的背景与意义
1.2论文各部分的主要内容
第二章器件的结构与测试原理
2.1存储器种类简介
2.2闪存器件的结构
2.3器件的工作原理
2.4器件的测试原理
2.4.1存储器术语的定义
2.4.2存储器芯片所需的功能测试
2.4.3存储器测试向量
2.4.4测试资源的消耗值
2.5本章小结
第三章器件失效的分析
3.1器件失效的数据收集
3.1.1器件失效的现象介绍
3.1.2器件失效的统计数据
3.2失效器件的数据分析、讨论
3.2.1 QA测试分析
3.2.2芯片表面分析
3.2.3器件参数分析
3.2.4器件速度与温度的分析
3.4失效的机理分析
3.5本章小结
第四章改进方案的讨论与实施
4.1失效的预防方案
4.1.1器件读取的原理
4.1.2 EQ与内部脉冲信号的关系
4.1.3器件工作电压与内部脉冲的关系
4.2改进方案的实施
4.3本章小结
第五章结论
参考文献
硕士期间发表的论文
附录
致谢
苏州大学;