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目录
第一章 绪论
1.1 集成电路测试概述
1.2 集成电路测试技术的国内外概况
1.3 本课题的来源和实际意义
1.4 本课题完成的主要工作
第二章 被测元件的特性
2.1 发光二极管原理
2.2 被测LED产品的品种与结构
2.3 被测参数和测试要求
第三章 测试系统的总体设计
3.1 测试仪概述
3.2 测试仪工作原理
第四章 系统的硬件电路设计
4.1 硬件电路总体设计
4.2 C8051F060单片机系统
4.3 上下位机的数据通信设计
4.4 精密测量单元的恒流源IF、恒压源VR设计
4.5 DAC及相关电路设计
4.6 ADC及相关电路设计
4.7 模拟开关及相关电路设计
第五章 系统的软件设计
5.1 系统软件的总体设计思想
5.2 系统设计和流程图
5.3 软件抗干扰处理技术
5.4 软件升级处理
5.5 系统上位机设计流程
第六章 通信协议
6.1 通信协议的流程图
6.2 流程中相应模块对应的程序和通信协议
第七章 机箱面板设计
7.1 机箱面板的设计
第八章 系统安装与调试
8.1 系统安装
8.2 系统调试
结束语
参考文献
致谢