射频芯片高低温自动测试平台的实现

摘要

随着电子芯片产业的迅猛发展，芯片质量的优劣直接影响到了产品性能的好坏。因而对芯片进行自动化测试的研宄已经非常必要。NRF24L01是一款常用的频率在2.45GHz左右能进行无线收发的芯片，本文设计了一套针对该芯片的自动化测试平
　　本文首先介绍了测试平台的意义和本文结构安排，然后介绍了为芯片检测提供外部温度环境的仪器一一高低温试验箱，以及NRF24L01射频芯片的工作模式和本文利用测试平台要控制的发射模式，给出了自动化测试平台的整体设计框架。接着阐述了虚拟仪器的概念、虚拟仪器体系结构、控制指令和总线技术等，基于这些原理实现了该测量系统中对频谱仪的控制。首先为上位机界面的实现，基于数据库访问技术和VISA函数的应用，设计了一款界面，该界面可以实现初始化频谱仪、自动控制测试平台和自动管理测试数据等。然后为下位机平台的实现，通过串口通信方式实现基于STM32F103芯片的测试平台对NRF24L01射频芯片的工作模式的设置，完成了上位机对射频芯片的控制。测试平台实现了测试系统的常规功能：如对测试平台的控制，数据自动化存储，频谱仪的控制，波形显示等。最后对本文设计的自动化测试平台进行了应用测试，并基于最小二乘法，分析了温度对输出功率的影响，为使用者提供参考。测试结果表明：该测试平台界面友好，操作方便，该测试平台的设计成功，大大缩小了芯片测试的周期，提髙了测试的效率，具有较好的可靠性。

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第一章 绪 论

1.1自动化测试的发展

1.2论文的研究意义及必要性

1.3 论文主要内容与结构安排

第二章 高低温自动测试系统的分析与设计

2.1高低温试验箱概述

2.2 NRF24L01射频芯片工作模式

2.3系统整体设计方案

第三章 自动测量系统中的仪器控制技术

3.1 虚拟仪器概述

3.2 虚拟仪器体系与结构

3.3 虚拟仪器的SCPI命令

3.4仪器总线技术

3.5自动测量系统中的频谱仪控制技术

第四章 测试平台上位机的实现

4.1主界面的设计

4.2虚拟仪器技术中的VISA及实现

4.3频谱仪初始化模块

4.4 ADO访问ACCESS数据库技术

4.5数据库访问模块

4.6测试平台控制模块

4.7显示模块

第五章 测试平台下位机的实现

5.1 测试平台的下位机结构

5.2 实现上位机对下位机的控制

5.3 串口通信技术

5.4 下位机软件设计流程

5.5 NRF24L01射频芯片的发送模式设置

第六章 自动化测试系统的实际应用

6.1 测试平台环境

6.2 测试平台应用

6.3 测试平台特点

第七章 结论与展望

7.1 本论文的主要工作

7.2 未来工作展望

参考文献

致谢