声明
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 层状化合物概述
1.2.1 范德华力连接的层状化合物
1.2.2 金属键或共价键连接的层状化合物
1.2.3 弱静电力连接的层状化合物
1.3 Aurivillius化合物概述
1.3.1 “111”型Aurivillius化合物研究现状
1.3.2 “122”型Aurivillius化合研究现状
1.3.3 “1111”Aurivillius化合物研究现状
1.4 层状化合物共生结构设计原则
1.5 Aurivillius化合物共生相研究现状
1.6 本论文选题目的与研究内容
第二章 实验部分
2.1 实验材料与仪器
2.1.1 主要试剂与材料
2.1.2 主要仪器与设备
2.2 样品合成方法
2.3 晶体结构表征
2.3.1 透射电镜与电子衍射
2.3.2 扫描电镜与成分分析
2.3.3 粉末X射线衍射
2.3.4 粉末中子衍射
2.3.5 粉末衍射解析晶体结构
2.4 能带结构计算方法
2.5 光电性质表征方法
2.5.1 XPS分析
2.5.2 漫反射光谱
2.5.3光电化学测试
第三章 “3311”型Aurivillius化合物Bi3O3SeX结构与性质
3.1 引言
3.2 实验
3.2.1 BiOX (X= Cl/ Br)前驱体
3.2.2 样品合成
3.3合成条件对产物的影响
3.3.1 不同温度对Bi3O3SeCl的影响
3.3.2 不同温度对Bi3O3SeBr物相的影响
3.4 Bi3O3SeX晶体结构解析
3.4.1 Bi3O3SeCl晶体结构推测
3.4.2 Bi3O3SeCl晶格参数及空间群测定
3.4.3 Bi3O3SeCl结构模型解析
3.4.4 Bi3O3SeCl衍射谱Rietveld精修及晶体结构确定
3.4.5 Bi3O3SeBr的晶体结构
3.5 Bi3O3SeX的XPS分析
3.5.1 Bi3O3SeCl的XPS能谱
3.5.2 Bi3O3SeBr的XPS能谱
3.6 Bi3O3SeX紫外-可见-近红外漫反射谱分析
3.7 Bi3O3SeX能带结构分析
3.8 Bi3O3SeX光电化学性质
3.9 本章小结
第四章 “4412型”Aurivillius化合物Bi4O4SeX2结构与性质
4.1 引言
4.2 实验
4.3 合成条件对产物的影响
4.3.1 不同温度对Bi4O4SeCl2的影响
4.2.2 不同温度对Bi4O4SeBr2的影响
4.4 Bi4O4SeX2晶体结构解析
4.4.1 Bi4O4SeCl2空间群及晶格参数测定
4.4.2 Bi4O4SeCl2结构模型解析
4.4.3 Bi4O4SeCl2衍射谱Rietveld精修及晶体结构确定
4.4.4 Bi4O4SeBr2的晶体结构
4.5 Bi4O4SeX2的XPS分析
4.5.1 Bi4O4SeCl2的XPS能谱
4.5.2 Bi4O4SeBr2的XPS能谱
4.6 Bi4O4SeX2紫外可见近红外漫反射谱分析
4.7 Bi4O4SeX2能带结构分析
4.8 Bi4O4SeX2光电化学性质
4.9 “3311”型和“4412”型晶体结构间的联系
4.10 本章小结
第五章 结论与展望
参考文献
附 录A
致谢
攻读学位期间的研究成果
