像增强器荧光屏测试仪热电子发射均匀性研究

摘要

在荧光屏的性能参数中，荧光屏发光亮度均匀是整个荧光屏性能参数测试的基础和前提，而它的检测因为主观因素的影响与测试设备的限制难以做到客观、准确。本论文参与研制“像增强器荧光屏综合参数测试仪”，在查阅大量中外文科技文献资料的基础上，分析了荧光屏亮度均匀性的评价标准，并建立了相应的测试方法：研制出满足测试系统要求的电子枪，实现对荧光屏发光亮度均匀性的精确测量。 首先，围绕荧光屏发光亮度均匀性，在分析微光像增强器荧光屏的发光特性及性能参数测试技术的基础上，提出测试荧光屏发光亮度均匀性的方法。 其次，基于电子光学理论，用MATLAB编程工具，采用有限差分法对测试系统电子枪内的静电场进行数值计算和仿真，采用龙格库塔法对电子轨迹进行数值计算和仿真，为测试系统电子枪的结构改进提供理论依据。 然后，通过分析不同的电场分布对电子轨迹的影响，并结合实验，逐步改进电子枪结构，使其符合测试系统要求。 最后，从统计角度分析荧光屏发光亮度的均匀性。荧光屏发光的直接原因是电子激发，通过分析不同电场下的电子轨迹落在荧光屏上的分布情况，得到荧光屏的发光亮度特性，进而结合实验找到使荧光屏均匀发光的最佳电场分布。为检测荧光屏的发光亮度均匀性做好准备。

目录

文摘

英文文摘

声明

1绪论

1.1夜视技术及微光像增强器的原理和发展现状

1.2微光像增强器的荧光屏

1.2.1荧光屏的发光机理

1.2.2荧光屏的性能参数

1.2.3荧光屏的亮度均匀性评价

1.2.4荧光屏的亮度均匀性测试介绍

1.3本论文的背景及意义

1.4本论文的主要工作

2荧光屏性能参数测试仪的热电子发射源

2.1荧光屏性能参数综合测试仪

2.1.1荧光屏性能参数综合测试仪的工作原理及系统构成

2.1.2荧光屏亮度均匀性测试方法

2.2热电子发射源研究

2.2.1金属的热电子发射

2.2.2电子发射源的造型分析

2.2.3电子发射源的热电子均匀性分析

2.3荧光屏性能参数综合测试仪的电子枪

2.3.1电子枪的结构设计

2.3.2电子枪的供电系统

3电子枪电场与电子轨迹的计算

3.1电子枪简介

3.2电子光学中的场与轨迹

3.2.1电子光学中的场

3.2.2电子光学中的轨迹

3.3场与电子轨迹的数值计算研究

3.3.1电场的数值求解

3.3.2电子轨迹的数值求解

3.3.3数值计算的细节问题

4像增强器荧光屏测试仪的电子枪

4.1电子枪电场的计算

4.1.1边界的确定

4.1.2网格点及精度的选取

4.1.3计算电子枪的电场分布

4.2电子枪电子轨迹的计算

4.2.1起点的确定

4.2.2轨迹方程的验证

4.2.3计算电子枪的电子轨迹

4.3电子枪的改进

5荧光屏发光均匀性研究分析

5.1测试仪电子枪的电场分布与电子轨迹计算模拟

5.1.1电场边界的确定

5.1.2电子枪的发射源

5.1.3测试仪电子枪的电子轨迹

5.1.4电子轨迹的处理

5.1.5荧光屏发光均匀性的分析方法

5.2荧光屏发光均匀性分析

6结束语

6.1本论文的工作总结

6.2本论文的创新点

6.3有待进一步进行的工作

致 谢

参考文献