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引言
第一章背景描述
§1.1背景
§1.2不良数据统计：
§1.3问题综合表述：
§1.4退货前三位退货不良的柏拉图分析：
§1.5 AWM剥线长度公差和裁切长度公差分析：
§1.6最重要原因分析：
§1.7部件不良与其他不良品分析：
§1.8现有加工技术问题综述：
第二章光栅测量技术简介
§2.1光栅测量技术发展的回顾
§2.2光栅测量技术原理
2.2.1.莫尔条纹
2.2.2.辨向原理
2.2.3.光栅的电子细分原理
2.2.4.光栅信息处理及应用
第三章 WIRING HARNESS生产中的相关工艺
§3.1精密线束相关工艺流程图(见图2.1)
§3.2 AWM线加工工艺介绍：
§3.3端子(Blade、Pin)加工工艺介绍
§3.4部件装配工艺介绍
§3.5电气与安规性能测试介绍
§3.6注塑成型工艺介绍
第四章方案针对性设计
§4.1对裁线与剥线进行自动化控制:
§4.2合适测量装置的选择:
4.2.1.光栅测量结构简述:
4.2.2.光栅测量原理与误差分析:
§4.3光栅位移测量原理的技术应用
4.3.1.光栅标尺的构造、种类与选择
4.3.2.光栅的零位处理
4.3.3.光栅线位移传感器的结构原理和安装
4.3.4.缩微光栅传感器选择:
4.3.5.检查
4.3.6.光栅测量装置验证:
4.3.7.安装光栅线位移传感器注意点:
第五章方案设计的实验验证
§5.1新设备日产量与人工和旧设备日产量对比
§5.2光栅测量与旧设备的测量精确度对比
5.2.1.用旧设备时的裁线与剥线长度差的Cp、Cpk分析:
5.2.2用新设备生产精密线束的裁线与剥线长度差Cp、Cpk分析:
§5.3 AWM的裁切与剥线Cp、Cpk跟踪与处理
§5.4总的结论
第六章改善措施及效果确认
§6.1改善措施
§6.2改善确认
第七章在新客户新产品中的应用
§7.1.常用高频对称电缆结构概述:
§7.2.含有高频信号传输线的Wiring Harness的品质确认:
第八章结论和改进方向
致谢
参考文献
