声明
摘要
第一章 绪论
1.1 MEMS概述
1.2 课题背景及意义
1.3 材料参数测试的研究和发展现状
1.3.1 电学参数的测试
1.3.2 几何学参数的测试
1.3.3 热学参数的测试
1.3.4 力学参数的测试
1.4 论文的主要工作
第二章 四探针电阻法在线提取薄膜电学和几何学参数
2.1 理论基础
2.1.1 牺牲层刻蚀及多晶硅台阶覆盖形貌
2.1.2 台阶电阻计算模型
2.2 测试结构与测试方法
2.2.1 测试结构设计与测试原理
2.2.2 测试方法与步骤
2.3 实验结果与误差分析
2.3.1 MEMSCAP表面牺牲层加工工艺
2.3.2 版图设计
2.3.3 测试及误差分析
2.4 小结
第三章 瞬态电热-热电分析法在线提取薄膜热学参数
3.1 理论基础
3.1.1 电热模型
3.1.2 热敏电阻
3.2 测试结构与测试方法
3.2.1 测试结构设计与测试原理
3.2.2 测试方法与步骤
3.3 有限元模拟分析与验证
3.4 尺寸设计与版图设计
3.4.1 尺寸设计
3.4.2 版图设计
3.5 小结
第四章 热执行法在线提取薄膜热学和力学参数
4.1 理论基础
4.1.1 双执行粱微旋转结构热执行器
4.1.2 单执行梁微旋转结构热执行器
4.2 测试结构与测试方法
4.2.1 热执行法在线提取热膨胀系数
4.2.2 热执行法在线提取残余应力
4.3 有限元模拟分析与验证
4.4 实验结果与误差分析
4.4.1 尺寸设计
4.4.2 版图设计
4.4.3 测试及误差分析
4.4.4 改进的测试结构
4.5 小结
第五章 静电执行法在线提取薄膜力学参数
5.1 理论基础
5.1.1 静电执行原理
5.1.2 梁的弯曲
5.2 测试结构与测试方法
5.2.1 测试结构设计与测试原理
5.2.2 测试方法与步骤
5.3 有限元模拟分析与验证
5.4 实验结果与误差分析
5.4.1 版图设计
5.4.2 测试及误差分析
5.4.3 改进的测试结构
5.5 小结
第六章 总结和展望
参考文献
在学期间发表的论文与申请的专利
致谢