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摘要
第一章 绪论
1.1 课题背景
1.2 纳米孔测序的发展历程与亟待解决的问题
1.2.1 纳米孔测序的发展
1.2.2 纳米孔测序亟待解决的问题
1.3 光诱导介电泳(ODEP)理论知识及技术运用
1.3.1 介电泳的基础理论
1.3.2 光诱导介电泳(ODEP)的研究与应用
1.4 常用薄膜制备技术
1.5 本文的研究内容与技术路线
1.5.1 选题依据
1.5.2 论文结构与设计路线
2.1 引言
2.2 氢化非晶硅薄膜结构
2.2.1 氢化非晶硅的Si原子网络结构
2.2.2 氢原子的成键模式与微结构
2.3 氢化非晶硅的光电性能
2.4 a-Si:H的磁控溅射(MSPVD)制备
2.5 薄膜性能表征方法及测试原理
2.5.1 原子力显微镜法
2.5.2 拉曼光谱法(Raman)
2.5.3 傅里叶变换红外光谱法(FTIR)
2.5.4 氢化非晶硅薄膜的电学性能测量
2.6 本章小结
3.1 引言
3.2 实验设计
3.2.2 实验的前处理
3.2.3 磁控溅射的实验过程
3.2.4 薄膜制备结束后处理
3.3 溅射功率对薄膜的影响
3.3.1 溅射功率对薄膜溅射速率的影响
3.3.2 溅射功率对薄膜表面形貌的影响
3.4 沉积气压对薄膜的影响
3.4.1 沉积气压对沉积速率的影响
3.4.2 氢气分压对薄膜表面形貌的影响
3.5 基片温度对沉积a-Si:H薄膜的影响
3.6 本章小结
4.1 引言
4.2 不同含量硼掺杂对薄膜结构的影响
4.3 不同含量硼掺杂对薄膜电学性能的影响
4.3.1 硼掺杂与电导率的关系
4.3.2 不同硼掺杂下薄膜的亮暗电导比
4.4 氢化非晶硅薄膜的不稳定性
4.4.1 光照对薄膜电学性质的影响
4.4.2 薄膜表面氧化对薄膜电学性能的影响
4.4.3 温度对薄膜电学特性的影响
4.5 本章总结
第五章 氮化硅纳米孔制备与DNA过孔实验研究
5.1 引言
5.2 纳米孔的制造
5.2.1 氮化硅薄膜芯片设计制造
5.2.2 基于FIB的纳米孔制造
5.3 纳米孔的离子电流测量及理论分析
5.4 基于氮化硅纳米孔的DNA过孔实验研究
5.4.1 实验注意事项
5.4.2 氮化硅纳米孔检测48kb的λ-DNA研究
5.5 本章小结
第六章 光诱导芯片的有限元分析研究
6.1 引言
6.2 有限元模型的建立与网格划分
6.3 基本属性与边界条件的设定
6.4 模型求解与分析
6.5 本章总结
第七章 总结与展望
7.1 全文总结
7.2 研究工作展望
致谢
参考文献
攻读硕士期间发表的论文及专利