成像式CCD尺寸检测SoC的前端设计

摘要

本文在对目前国内外CCD尺寸检测系统的研究现状进行认真分析总结的基础上，提出了一种结合SoC技术的成像式尺寸检测系统。采用了全新的测量方法--成像法(非投影，无需光源，无需接近)，即直接对图像进行分析。 本文首先对SoC技术及Nios II软核处理器进行了阐述。其次，在研究了Nios II软核处理器的结构、性能和总线规范的基础上，针对CCD尺寸检测系统设计需求，提出基于SoC技术的CCD尺寸检测系统设计思想，设计了基于Nios II的图像采集与处理系统，并论证了系统的可行性。最后，运用Verilog HDL对各个模块电路进行了行为级描述，完成了行为级验证、逻辑综合及门级验证，进行了系统级的硬件仿真，对测试结果进行了分析，完成了SoC前端设计的工作。

目录

文摘

英文文摘

声明

第一章绪论

§1.1课题来源及研究的目的和意义

§1.2国内外研究现状及主要研究内容

§1.3本文的主要研究内容

第二章系统的总体架构设计

§2.1 SOPC系统及嵌入式内核

§2.2 NIOS Ⅱ系统及其特点

§2.3硬件系统设计

第三章 图像传感器的选择与应用

§3.1 CCD的基本结构和工作原理

§3.2 CCD的选用

第四章CCD驱动及视频信号处理电路的设计

§4.1线阵CCD时序脉冲电路产生的方法

§4.2 FPGA技术的特点

§4.3 TCD1206的时序脉冲驱动电路设计

§4.4 CCD视频信号处理电路的设计

第五章基于NIOS Ⅱ的视频图像采集、处理系统组成

§5.1图像数据的采集

§5.2视频图像的处理

§5.3基于NIOS Ⅱ的系统组成

第六章系统调试与结果分析

§6.1CCD时序脉冲驱动与处理电路调试

§6.2系统的整体调试

§6.3结果分析

结论

参考文献

致谢

附录