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声明
第一章绪论
1.1引言
1.2国内外GTO研究现状
1.2.1 GTO的发展状况及国外研究现状
1.2.2国内GTO研究现状
1.3选题背景及意义
1.4本文主要工作及安排
第二章GTO器件的工作原理
2.1 GTO的结构
2.2 GTO的开通原理
2.3 GTO的关断原理
2.4本章小结
第三章3kA/4.5kV GTO扩散工艺研究与模拟
3.1 GTO工艺介绍
3.2掺杂工艺的选择
3.3硼离子注入及推进
3.3.1离子注入介绍及特点
3.3.2硼离子注入及推进扩散
3.4改进的铝闭管扩散
3.4.1闭管铝扩散
3.4.2改进的铝扩散工艺-饱和源扩散
3.5工艺模拟及结果分析
3.5.1工艺模拟的目的和意义
3.5.2扩散工艺模拟
3.5.3模拟结果分析
3.6本章小结
第四章3kA/4.5kV GTO的精密光刻
4.1光刻原理简述
4.2 GTO的光刻特点
4.3光刻机的性能
4.4光刻胶的选用
4.4.1光刻胶的选择
4.4.2光刻胶粘度及涂胶速度的确定
4.5 SiO2刻蚀
4.5.1湿法腐蚀原理
4.5.2准确控制腐蚀温度和时间
4.5.3巧妙设计工艺流程,减少缺陷影响
4.6 SiO2刻蚀试验结果
4.7硅腐蚀挖槽工艺的改进
4.7.1门阴极的“类台面”挖槽结构
4.7.2旋转式湿法挖槽
4.7.3实验结果
4.8本章小结
第五章3kA/4.5kV GTO特性测试
5.1 GTO的主要额定值及符号
5.2 3kA/4.5kV GTO器件特性测试
5.2.1静态特性
5.2.2动态特性
5.3器件特性分析
5.4本章小结
第六章结束语
6.1工作回顾与总结
6.2后续工作展望
参考文献
附录
致谢
攻读学位期间主要的研究成果