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引线键合线弧成形规律及其实验平台运动控制研究

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摘要

1 绪论

1.1 课题来源与研究背景

1.2 芯片互连技术简介

1.3 国内外研究现状

1.3.1 引线键合线弧成形规律

1.3.2 引线键合实验平台及其运动控制研究

1.4 本文主要研究内容

2 引线键合线弧成形过程特征参数提取

2.1 概述

2.2 线弧成形过程

2.2.1 线弧成形工艺过程

2.2.2 引线键合过程实验图像获取

2.3 引线键合图像序列分析计算

2.3.1 图像预处理

2.3.2 劈刀运动轨迹计算

2.3.3 劈刀运动参数分析

2.3.4 引线轮廓提取

2.4 本章小结

3 引线键合线弧轮廓预测与分析

3.1 概述

3.2 线弧成形仿真模型

3.2.1 连杆-弹簧模型

3.2.2 弹性系数和弹簧弯矩推导

3.3 线弧成形仿真

3.3.1 仿真初始位置引线轮廓

3.3.2 打火杆熔球与焊盘温度对引线材料性能的影响

3.3.3 线弧轮廓预测与实验验证

3.4 引线轮廓影响因素分析

3.4.1 田口方法试验分析

3.4.2 线弧规划设计

3.5 本章小结

4 线弧成形过程键合头精密运动控制研究

4.1 概述

4.2 引线键合实验平台

4.2.1 引线键合实验平台结构

4.2.2 键合头运动平台数学模型

4.3 键合头运动平台控制系统及键合运动测试

4.3.1 键合头定位平台控制系统

4.3.2 键合头运动控制实验测试

4.3.3 引线键合运动测试

4.4 本章小结

5 线弧成形过程键合头运动规划

5.1 概述

5.2 键合头运动规划分析

5.2.1 常用加减速方法

5.2.2 加减速运动激振分析

5.2.3 S曲线加减速分析

5.3 键合头运动规划与实验测试

5.3.1 键合头运动规划

5.3.2 振动分析与实验测试

5.3.3 应用规划结果的引线键合运动测试

5.4 本章小结

6 总结与展望

6.1 全文总结

6.2 展望

参考文献

攻读硕士学位期间的主要研究成果

致谢

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摘要

近年来,随着IC制造业的快速发展,对芯片封装技术有了更高的要求。而引线键合正向着高密度、高速度、高可靠性方向发展,这对引线键合设备和键合工艺都提出了更高的要求。
  本文以引线键合线弧成形过程为研究对象,分析了线弧成形过程中键合头运动与引线轮廓间的关系,从分析结果可知,键合头运动精度对线弧轮廓有很大影响。之后对线弧成形过程键合头的精密运动控制进行了研究,使得引线键合实验平台键合头的运动精度能够满足芯片焊接的要求。具体研究内容如下:
  1.在K&S8028引线键合机上进行了引线键合实验,并通过高速摄像仪记录下引线键合过程,得到了引线键合过程序列图像。对引线键合过程序列图像进行分析和处理,得到了劈刀运动参数和线弧成形过程中各位置引线轮廓,为后续的研究提供基础。
  2.基于连杆-弹簧模型对线弧轮廓进行了预测,并将预测结果与实验结果进行了对比,验证了预测模型的有效性。之后在该模型的基础上,利用田口方法分析了劈刀运动轨迹对引线轮廓的影响。
  3.针对线弧成形过程中键合头的运动精度要求,对键合头的键合运动进行了精密运动控制研究。在键合头精密运动的基础上,对键合头进行了引线键合运动测试,得到了较好的运动效果。
  4.在键合头高精密运动控制的基础上,针对线弧成形过程中键合头的运动特点,对键合头运动进行了规划。并将规划结果应用于引线键合过程键合头的运动,对比前面未进行规划的劈刀运动,规划后的键合头运动误差更小。

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