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第一章绪论
1.1 X射线荧光分析技术的国内外进展
1.2软X射线荧光探测方法概述
1.2.1光学结构
1.2.2探测器
1.2.3色散系统
1.3研究的目的和意义
1.4论文的主要研究内容
第二章X射线荧光理论
2.1软X射线荧光探测基本概念
2.1.1原子的壳层结构
2.1.2轨道电子结合能和临界激发能
2.1.3 X射线荧光(特征X射线)的产生
2.2软X射线荧光的特点
2.2.1软X射线荧光的吸收
2.2.2激发因子
2.3掠射探测方法原理
2.4 X射线荧光的探测器理论
第三章软X射线荧光测量装置
3.1光学结构的选择
3.2软X射线荧光测量装置的组成
3.2.1激发单元
3.2.2探测单元
3.3软X射线荧光测量装置的定标
3.3.1坪特性曲线的测量和工作电压的确定
3.3.2分辨率的测定
3.3.3死时间的测定
3.3.4多道脉冲高度分析器(MCA)能量刻度
第四章软X射线荧光测量装置测量误差及其实验研究
4.1软X射线荧光测量装置的测量误差
4.1.1软X射线荧光测量装置测量误差产生的原因
4.1.2软X射线荧光测量装置测量精密度的测定
4.1.3软X射线荧光测量装置测量准确度的测定
4.2软X射线荧光测量实验研究
4.2.1掠出射X射线荧光光谱的测定
4.2.2掠出射X射线荧光光谱强度的实验研究
4.2.3硬铝2A1 2荧光光谱探讨
第五章总 结
5.1本文的主要成果
5.2问题和展望
参考文献:
在读期间发表论文情况
致谢
长春光学精密机械与物理研究所硕士学位论文原创性声明