瞬态电流测试生成及故障模拟研究

摘要

数字电路测试主要有电压测试和电流测试两种方法。关于电压测试的研究已日趋完善并在工业中得到了广泛的应用。电流测试方法可作为电压测试方法的补充手段，有效地提高电路的可靠性。瞬态电流测试方法可以测试一些其他测试方法无法检测的故障，进一步提高故障覆盖率。本文采用启发式搜索的方法，基于对FAN算法的分析，在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试生成的可能性。文中定义了三种不同的D前沿，并将测试生成分为三个部分：1、激活故障，2、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，3、减少旁路的影响。实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。由于制造设备本身存在微小误差，具体门的延时并不相同，而是在一定范围内变化，引起波形变化的时间不确定。本文采用一个四维立方(v，f，h_1，h_0)来表示信号线ι在某一时间段内的波形并给出了所有门电路的输出立方计算方法。利用测试生成的向量对，采用瞬态电流测试方法对开路故障进行并发故障模拟。实验结果证明了瞬态电流测试方法的可行性和有效性。

目录

第一章 绪论

第二章 理论基础

第三章 基于瞬态电流测试的开路故障测试生成

第四章 基于状态立方的多种类型故障模拟

第五章 结束语

致谢

参考文献

附录(攻读学位期间发表论文目录)