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第1章 绪论
1.1集成电路自动测试系统的概念及意义
1.2集成电路自动测试系统组成与分类
1.3集成电路自动测试系统发展现状
1.4课题来源及系统的主要技术指标
1.5课题研究的主要内容及组织结构
第2章 IC测试原理及其方法
2.1测试和测试向量的必要性
2.2测试技术种类
2.3测试原理及其方法
2.3.1直流参数测试
2.3.2交流参数测试
2.3.3采样与重建
2.3.4电源电流测试
2.3.5 DAC和ADC测试规格
2.3.6存储器芯片测试
2.3.7逻辑器件测试
第3章 系统硬件设计
3.1系统电源分配
3.2各单元板功能及其原理
3.2.1系统接口板的设计与实现
3.2.2继电器驱动板的设计与实现
3.2.2测量板(QVM)的设计与实现
3.2.3电压电流源的设计与实现
3.2.4交流信号源及交流测量板(ACSM)的设计与实现
3.2.5烧铝电源板的设计与实现
第4章 系统软件设计
4.1底层驱动程序的设计与实现
4.1.1自动测试系统软件介绍
4.1.2系统软件设计
4.2测试程序的设计
4.2.1测试程序的介绍
4.2.2测试程序的实现
4.3测试程序界面及人机交换过程
第5章 集成电路测试系统的实际应用
5.1集成运算放大器的测试方法和原理
5.1.1集成运算放大器的测试的原理及其方法
5.1.2对于Vos的烧调
5.1.3影响运算放大器闭环参数测试精度的主要因素及解决措施
5.1.4测试数据
5.2 HX5031-A01测试方法和原理
5.4.1测试原理及方法
5.4.2影响测试的因素
5.4.3测试数据
结论
参考文献
致谢
附录