复杂电磁环境中BIT诊断能力增强技术研究

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摘 要

Abstract

1 第一章 绪论

1.1 研究背景及意义

1.2 文献综述

1.2.2 BIT诊断理论及其增强技术研究综述

1.2.3 CEME中BIT诊断能力增强技术研究综述

1.3 论文的主要内容和组织结构

1.3.1 论文主要研究问题及思路

1.3.2 论文研究内容和组织结构

2 第二章 CEME特性及其对BIT的影响机理分析

2.1 CEME特性分析

2.1.1 CEME定义

2.1.2 CEME作用原理分析

2.1.3 CEME作用影响分析

2.2 电磁应力的作用理论基础和仿真模型分析

2.2.2 电磁应力场仿真模型分析

2.3 电磁应力对BIT诊断结果的影响分析

2.3.1 BIT测试诊断模型分析

2.3.2 BIT间歇报警机理研究

2.3.3 基于CEME作用影响的电磁应力分类研究

2.3.4 电磁应力与BIT诊断结果的关联关系研究

2.4 总结

3 第三章 干扰型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究

3.1 干扰型电磁应力对电子装备及其BIT系统的影响分析

3.1.1 干扰型电磁应力对电子装备的作用影响分析

3.1.2 干扰型电磁应力对BIT测试信号的影响分析

3.1.3 干扰型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析

3.1.4 干扰型电磁应力作用下BIT诊断能力增强途径分析

3.2 基于CWT-SVM的BIT抗干扰诊断增强技术

3.2.1 总体思路

3.2.2 电磁环境应力的表征参量分析

3.2.3 基于CWT的BIT测试信号滤波方法

3.2.4 基于SVM的BIT非线性综合决策方法

3.3 验证案例

3.3.1 电连接器故障测试实验

3.3.2 实验数据处理

3.4 总结

4 第四章 扰乱型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究

4.1 扰乱型电磁应力的作用模型及其对BIT系统的影响分析

4.1.1 扰乱型电磁应力的共性分析

4.1.2 ESD应力的作用模型

4.1.3 扰乱型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析

4.2 基于虚警识别的BIT诊断能力增强技术

4.2.1 基于虚警识别的BIT诊断能力增强技术总体方案

4.2.2 基于故障特征贡献度的特征提取方法

4.3 基于ESD作用实验的验证案例

4.3.2 实验数据处理

4.4 总结

5 第五章 损伤型电磁应力作用下BIT诊断能力增强技术研究

5.1 损伤型电磁应力的影响因素及其对BIT系统的影响分析

5.1.1 电磁损伤的影响因素分析

5.1.2 电磁损伤的失效机理分析

5.1.3 损伤型电磁应力对BIT诊断结果的影响分析

5.2 基于电磁损伤评估的BIT诊断能力增强技术

5.2.1 电磁应力对损伤的影响分析

5.2.2 电磁损伤评估模型及方法

5.2.3 基于数据变异AIS的诊断方法

5.3 验证案例

5.3.1 基于ESD应力的电磁损伤仿真实验

5.3.2 实验数据处理与分析

5.4 总结

6 第六章 结论与展望

6.1 研究结论

6.2 研究展望

致谢

参考文献

作者在学期间取得的学术成果