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目录
1 绪 论
1.1 课题背景、意义及其来源
1.2 论文研究内容及安排
2 存储器的工作原理和电路结构
2.1 存储器概述
2.2 SRAM工作原理
3 嵌入式存储器的内建自测试技术
3.1 存储器的内建自测试技术原理
3.2 存储器的故障模型
3.3 存储器的故障检测算法
3.4 本设计中嵌入式存储器的测试电路的实现
4 嵌入式存储器的内建自修复技术
4.1 存储器修复技术概述
4.2 内建自修复技术的类型和原理
4.3 存储器自修复策略
4.4 改进型的针对高故障密度存储器的修复策略
5 测试及修复结果的验证和分析
5.1 实验结果
5.2 本章小结
6 总 结
6.1 全文总结
6.2 展望
致谢
参考文献