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目录
1绪论
1.1引言
1.2厚膜技术概况
1.3厚膜压力传感器研究概况
1.4厚膜技术在传感器封装中的应用
1.5课题来源和研究内容
2 厚膜不锈钢压力传感器材料测试与可行性评估
2.1厚膜技术概述
2.2介质层纳米压痕测试
2.3厚膜电阻基本特性测试
2.4 厚膜不锈钢压力传感器可行性分析
2.5本章小结
3厚膜不锈钢压力传感器设计与制造
3.1薄板小挠度弯曲理论
3.2厚膜不锈钢压力传感器结构设计
3.3厚膜不锈钢压力传感器材料工艺参数选择
3.4厚膜不锈钢压力传感器制造工艺
3.5本章小结
4厚膜不锈钢压力传感器性能与可靠性评估
4.1厚膜不锈钢压力传感器输出特性
4.2热应力对厚膜不锈钢压力传感器可靠性影响
4.3厚膜电阻自热效应对传感器可靠性影响
4.4厚膜不锈钢压力传感器热冲击实验及分析
4.5本章小结
5厚膜技术封装的半导体压力传感器制造与性能评估
5.1半导体硅压阻效应原理
5.2传统半导体应变片制作工艺
5.3半导体应变片的外延工艺制造
5.4半导体压力传感器的厚膜工艺封装
5.5厚膜技术封装的半导体压力传感器性能评估
5.6粘片材料微观结构分析
5.7本章小结
6总结与展望
6.1 全文总结
6.2 今后工作展望
致谢
参考文献
攻读博士学位期间发表学术论文
攻读博士学位期间申请和授权专利