首页> 中文学位 >基于红外法的薄膜厚度测量仪的研制
【6h】

基于红外法的薄膜厚度测量仪的研制

代理获取

目录

基于红外法的薄膜厚度测量仪的研制

DEVELOPMENT OF THE FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT BASED ON INFRARED

摘 要

Abstract

目 录

第1章 绪论

1.1课题背景及研究的目的和意义

1.2 常见薄膜厚度测量方法

1.3课题国内国内外研究现状

1.4本课题主要内容

第2章 薄膜红外测量系统的硬件设计

2.1薄膜红外测量系统原理

2.2薄膜生产线流程简介

2.3硬件总体设计

2.4硬件各部分设计

2.5串口通信

2.6 本章小结

第3章 薄膜红外测量系统的软件设计

3.1软件总体设计

3.2软件的结构框架设计

3.3软件的系统设计

3.4系统的各个模块设计

3.5 ADO访问数据库

3.6 串口通信技术

3.7本章小结

第4章 实验结果与分析

4.1实验结果

4.2测量多种薄膜厚度

4.3系统误差分析

4.4本章小结

结 论

参考文献

哈尔滨工业大学硕士学位论文原创性声明

致 谢

展开▼

摘要

聚乙烯、聚丙烯和聚氯乙烯等塑料薄膜在工业、农业及食品包装等领域应用非常广泛,而且它们的品种规格非常多。其中薄膜的厚度是产品的重要物理指标之一,它将直接影响到产品的产量、质量、经济效益和生产成本,薄膜厚度测量也是薄膜制造业的基础检测项目之一。所以在生产过程中进行在线检测厚度一直是人们关心的重要问题。
  在线厚度检测仪器中工业应用最多的是射线测厚仪,但是由于它具有放射性危害,价格较贵和存在统计误差等缺点。而相比之下的红外测厚仪具有价格低廉安全可靠等优点。所以近年来,国内外利用红外技术不断发展红外测厚。本文主要利用红外技术来测量薄膜厚度。
  课题的主要工作包括三部分:系统硬件设计、软件的设计和调试试验。系统是根据红外透射法原理来测量薄膜厚度。其中,硬件部分由测量部分和执行机构部分组成:测量部分接收透过所测薄膜的功率值,执行机构部分负责功率计和光源沿着导轨扫描并提供位移信息。系统软件部分采用VC++6.0编写,由标定、参数设定、测量、数据回放、系统维护等功能模块组成,实现了接收下位机的数据并进行处理和显示。
  通过对标准样品的实验数据分析,验证了系统具有响应时间快、动态误差小、重复性、稳定性和良好的精确度,同时它具有操作简便、维护方便、响应速度快等优点。在结构和性能方面与国内同类仪器相比有很大突破,达到了预期的要求。完全可以达到工业生产标准。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号