单晶镍纳米线阵列的制备及性能研究

摘要

磁性纳米线阵列在新一代超高密度垂直磁记录材料中具有潜在的应用前景。本文采用恒电流电化学沉积方法在多孔氧化铝模板中制备出单晶镍纳米线。利用X射线衍射分析(XRD)、透射电子显微分析(TEM)和选区电子衍射分析(SAED)研究其结构。利用振动样品磁强计(VSM)测定纳米线阵列的磁性能。利用高温原位X射线衍射技术研究其热膨胀行为。 结果表明，在0.8mol/L的NiSO4·6H2O电解液中，pH为4.5时，采用电流密度为2.0mA/cm2的恒电流电沉积制备出单晶镍纳米线。电解液浓度、pH值和电流密度的增加都有利于提高纳米线阵列的矫顽力。 通过设计正交实验获得纳米线直径为25nm的单晶镍纳米线，其矫顽力为1036Oe，剩磁比为0.94。单晶镍纳米线阵列具有较强的磁各向异性，主要是由形状各向异性引起的。纳米线直径从40nm减小到15nm，其矫顽力从888Oe增大到1106Oe。 利用高温原位X射线衍射技术研究了单晶镍纳米线阵列的热膨胀行为。沿纳米线方向的热膨胀系数为1.84×10-5K-1，大于块体镍的线膨胀系数1.33×10-5K-1。

目录

文摘

英文文摘

第1章绪论

第2章实验方法及原理

第3章单晶镍纳米线阵列的制备

第4章镍纳米线阵列磁性能的研究

第5章镍纳米线热膨胀行为的研究

结论

参考文献

攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果

致谢

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