基于新缺陷分类模型的缺陷跟踪管理

摘要

缺陷在软件产品中扮演重要角色:一方面,在测试过程中检测到缺陷时,应该对缺陷进行处理,从而保证软件有一个较高的质量;另一方面,缺陷本身带有很多重要信息,可以用这些信息来进行项目产品过程跟踪、控制,从而有效地提高软件产品的质量.因此,很有必要对这些缺陷进行类型和数量的收集,从而可以对这些缺陷数据进行分析.而一个好的缺陷分类模型则可以很方便地用来发现缺陷的属性,对之进行分析、总结,这样有利于高效、快速地发现缺陷,有利于降低项目成本同时又可以提高软件产品质量.在该论文中,在研究DCM的同时,会把新的DCM应用到缺陷跟踪模块中,并对软件开发过程中发现的缺陷收集,在新的DCM的基础上生成相关报表,根据这些报表的信息可以对项目的缺陷分布有一个清楚的了解,有利于掌握整个项目的进展情况及对软件过程进行调整和改进.

目录

文摘

英文文摘

第一章背景介绍

1.1缺陷概述

1.2缺陷跟踪系统介绍

第二章对DCM的分析

2.1 DCM概述

2.2对HP和IBM的DCM的比较及评价

2.3如何改进DCM

第三章建立新的DCM

3.1定义DCM的基础

3.2建立新DCM

第四章DCM在缺陷跟踪模块中的应用

4.1缺陷跟踪模块

4.2新DCM对缺陷跟踪模块数据模型的改进

4.3新DCM对缺陷跟踪模块流程的改进

4.4新DCM下所生成的报表

结束语

参考文献

致谢

原创性声明