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第一章半导体器件中的载流子输运
1.1经典输运模型:漂移—扩散模型
1.2传统量子输运模型:密度梯度模型
1.3非平衡格林函数的引入
1.4本论文的目的和意义
第二章:非平衡格林函数方法
2.1简介
2.2自洽方程组及基本解
2.3 B(U)TTIKER探针散射模型
2.4边界条件的确定
2.5实空间和模空间的讨论
第三章非平衡格林函数方法对纳米量级MOS器件的应用
3.1器件模型结构
3.2弹道输运模型的模拟结果
3.2.1器件在平衡状态下的性质
3.2.2器件在非平衡状态下的性质
3.3 B(U)TTIKER探针散射模型的模拟结果
3.4态密度能谱分布图
第四章对纳米量级双栅MOS开启电压的研究
4.1简介
4.2窄沟效应
4.3短沟效应
4.4氧化层厚度的影响
4.5总的效应
4.6讨论
4.7总结
第五章总结与展望
5.1全文总结
5.2将来的工作
5.2.1掺杂浓度的问题
5.2.2模空间带来的问题
5.2.3有待解释的现象
5.2.4处理散射的问题
参考文献
致谢
兰州大学;