TD-LTE系统终端非接入层研究与测试

摘要

TD-LTE技术已经成为准4G技术，越来越多的服务商、系统商和芯片商加入到TD-LTE技术的研究中，使得TD-LTE系统的技术规范越来越成熟，而随着TDD频谱的划分，4G商业化的道路越加通畅。目前4G规模试验网已经在全国铺开建设，TDD在频谱利用方面的优势也会被越来越多的人体验到。在终端方面，目前最重要的并不是给TD-LTE终端提出很多复杂和不必要的要求，而是应该侧重于TD-LTE终端是否能够商用且能否提供很好的性能。而对于TD-LTE更多功能的引进，应该随着时间的推移逐渐提出。因此，对TD-LTE系统终端的一致性测试才显得尤为重要。
　　 本课题来源于“新一代宽带无线移动通信网”国家科技重大专项《TD-LTE无线综合测试仪表开发》和《TD-LTE TTCN扩展测试集仪表开发》。以往的TD-LTE系统测试中主要应用的是SDL与TTCN-2协仿真的方法来进行测试，这种测试方法复杂且测试准确率不高，可移植性也不好，为解决这一问题而引入TTCN-3核心语言与GFT图形建模相结合的测试方法，此方法可缩减手动编写测试脚本所需的时间，从而提高测试效率。因此，使用TTCN-3核心语言和GFT图形建模的方法开发TD-LTE系统终端非接入层的测试用例，具体的测试用例是依靠TTworkbench Professional软件开发工具实现的。文章首先介绍了TD-LTE系统的技术背景和非接入层的网络架构，重点研究了非接入层中演进型移动性管理实体（EMM）的相关协议和功能以及非接入层测试例的开发环境和测试例的总体架构设计。在对开发环境深入了解的基础上，设计了非接入层的开发模型和相关过程的流程图、测试步骤、消息参数，并使用TTCN-3核心语言与GFT图形建模的方法设计实现了非接入层中常见过程，如网络不允许鉴权/鉴权拒绝并重新鉴权、EPS业务附着过程成功、网络发起分离/必须重新附着和正常追踪区更新过程的测试用例，且测试结果表明测试用例的设计符合标准要求，对相关开发具有一定参考意义。

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摘要

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表目录

缩略表

第一章 绪论

1．1 课题的研究背景及意义

1．2 课题的主要工作

1．3 国内外研究现状

1．4 内容安排

第二章 TD-LTE系统网络架构与非接入层协议研究

2．1 LTE系统网络架构

2．2 非接入层协议研究

2．2．1 非接入层概述

2．2．2 终端EMM子层相关状态

2．2．3 EMM子层相关过程

2．3 本章小结

第三章 TD-LTE系统终端协议一致性测试设计

3．1 协议一致性测试

3．2 TTCN简介

3．2．1 TTCN-3语言

3．2．2 TTCN测试系统架构

3．3 GFT图形建模

3．4 开发环境

3．5 测试用例总体开发架构设计

3．5 本章小结

第四章 非接入层测试用例的设计

4．1 非接入层测试用例开发模型设计

4．2 EMM子层流程设计与消息参数配置

4．2．1 网络不允许鉴权／鉴权拒绝并重新鉴权过程

4．2．2 EPS业务附着过程成功

4．2．3 网络发起分离／必须重新附着

4．2．4 正常追踪区更新过程

4．3 本章小结

第五章 EPS移动性管理子层协议一致性测试用例实现

5．1 EMM子层测试用例实现过程

5．1．1 应用TTCN-3设计实现的一般要求

5．1．2 模块设计与test case实现过程

5．1．4 通信端口定义和组件定义

5．1．5 模板的发送和接收

5．2 构造测试用例

5．2．1 网络不允许鉴权／鉴权拒绝并重新鉴权过程测试用例实现

5．2．2．EPS业务附着过程成功测试用例实现

5．2．3 网络发起分离／必须重新附着测试用例实现

5．2．4．正常追踪区更新过程测试用例实现

5．3 测试结果

5．4 本章小结

第六章 论文的总结及进一步的展望

6．1 论文的总结

6．2 论文的主要贡献

6．3 未来的展望

致谢

参考文献

附录A 攻硕期间从事的科研工作及取得的研究成果