National Key Lab of Opto-electronics Information, College of Science, Tianjin University, EMC, Tianjin, 300072, P. R. China;
two-layered medium; detected depth coefficient; reflectance;
机译:通过空间分辨和时间分辨反射率测量两层介质的吸收系数的简单算法
机译:通过空间分辨和时间分辨反射率测量两层介质的吸收系数的简单算法
机译:根据深度分辨的紫外-可见漫反射光谱顺序估计两层上皮组织模型的光学性质
机译:用深度检测函数对两层介质空间分辨反射率的理论研究
机译:具有可变光纤几何形状的空间分辨反射光谱
机译:通过同时分析稳态漫反射光谱的光谱和空间信息来量化两层混浊介质的光学性质
机译:通过同时分析稳态漫反射光谱的光谱和空间信息来量化两层混浊介质的光学性质